具循序排列进料区、测试区及出料区的多测试座测试机台制造技术

本实用新型专利技术是将进料区、测试区及出料区三者沿第一方向排列，承载移动装置、捡取装置则彼此相对沿第二方向配置，并沿第一方向在上述三区间相对移动，通过两者交错的动向设计，由承载移动装置吸取进料区的待测组件，将待测组件搬移至测试区的测试座中，由驱动装置驱动各测试座依序经过如平整测试、电性测试、效能测试等单元后，再由捡取装置将完测组件搬移至出料区的出料承载盘放置。这样，批次进行大量检测，并让进料与出料分列于测试区两端，使机台配置集积化，运送及测试的效率提高，更减少待测物搬移次数，避免无谓劣化而降低良率。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

具循序排列进料区、测试区及出料区的多测试座测试机台
本技术是关于一种测试机台，尤其是一种具循序排列进料区、测试 区及出料区的多测试座测试机台。
技术介绍
无论半导体组件或光学感测组件，在出厂或上线使用前，都须经层层的 检测作业，以确认组件的质量。如图1所示，台湾新型专利第551500号，名称为"IC检测机之运送装 置"，揭露了一种自动化检测机台1，其机台1设置多个测试装置10，每一 测试装置10上分别形成单一测试基座100,当承载有待测IC的承载盘121 被放置于进料区12后，左悬臂取放装置13会移动至承载盘121上方，驱动 吸嘴130吸起待测组件，再沿着滑轨132及134以平面X-Y方向将待测组件 搬移至转运装置14上的第一容置槽140放置。随即，转运装置14向图示上方沿Y方向移动，由对应于左悬臂取放装 置13的位置，移动至对应于右悬臂取放装置15的管辖范围。同时，右悬臂取放装置15同样沿着滑轨152及154，循图示X-Y平面 移动至转运装置14上方， 一方面将原先由测试基座100中以吸嘴150取回 的测毕组件放入转运装置14的第二容置槽142，再接续将第一容置槽140 中本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具循序排列进料区、测试区及出料区的多测试座测试机台，其中该用来测试多个待测组件的机台具有贯穿该进料区、测试区及出料区的轴线，其特征在于，该等待测组件在进出该机台时，是被设置在承载盘上搬移，该机台包含：　　　　设置于该进料区、并以与该轴线夹一预定角度方向移动进料承载盘的进料装置；　　　　多个沿该轴线配置于该测试区、并分别具有多个供容置该等待测组件的容置槽的测试座；　　　　大致沿该轴线方向移动、供将该进料承载盘上的该等待测组件搬移至该等测试座上容置槽的承载移动装置；　　　　多个分别对应各该测试座、用以测试该等待测组件的测试装置；　　　　设置在该出料区、并以与该轴线夹一预定角度方向移动出料承载盘...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈建名，
申请(专利权)人：致茂电子股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]