恒压源式石英晶体参数测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术与其他晶体阻抗计、专用晶体振荡器所不同的特征，是运用晶体管——集成电路混合线路，用恒压控制原理检测振荡回路中某点的高频电压，自动地控制回路增益，以恒定该点的高频电位。经标准法测量，频率范围８００＋［ＫＨＺ］～６０＋［ＭＨＺ］，测频精度优于２ｐｐｍ，缴励功率０．～０．５＋［ＭＷ］，功率精度为１０％，电阻６～５００欧姆。本实用新型专利技术给出了设计制造恒压源式晶体阻抗计、专用晶体振荡器所遇到的关键技术问题。（*该技术在1998年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
恒压源式石英晶体参数测量装置由选频放大器、恒压源控制电路和晶体测量网络构成；选频放大器包括六个晶体管（１）、（２）、（３）、（４）、（５）、（６）、公共电感（７）、（９）、调谐电容（８）、回路电感（１０）和回路电阻（１１），恒压源控制电路包包括峰值检波器（１３）、（１４）、激励调节电位器（１５）和集成电路直流放大器（１６），晶体测量网络包括被测晶体（２０）和对称相等的两电阻（２１）、（２２），恒压源式石英晶体参数测量装置，其特征在于：与晶体测量网络并联装有恒压源控制电路，恒压源控制电路装在电压放大级晶体管（６）、（１）、（２）和功率放大级晶体管（３）、（４）、（５）之间，通过耦合电容（１７）、...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：丁力，雷荣，
申请(专利权)人：丁力，
类型：实用新型
国别省市：43[中国|湖南]