一种多段功能测试装置，其特征在于，包括有：一承载座，其具有可提供置放一待测物的一容置空间，该容置空间布设有贯穿该承载座的多个通孔；一测试座，该测试座具有至少一组不同高度的多个顶针，该多个顶针的位置分别对应于该多个通孔；多个弹性体，该弹性体连接该承载座与该测试座，使该测试座与该承载座相距一距离；一盖体，其与该承载座相贴靠，该盖体还具有延伸出该承载座的一凸伸臂；以及一偏移装置，其具有一轴心以及一曲面，该曲面上的不同位置其是与该轴心相距不同长度距离，该曲面通过该盖体与该承载座相贴靠时可提供该凸伸臂抵靠；其中，当该盖体与该承载座相贴靠时，通过该凸伸臂压迫该曲面上的不同位置，通过该多个弹性体形变，以改变该承载座与该测试座相距的距离。（*该技术在2013年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种测试装置，特别是涉及提供有多段时间差测试待测基板的电讯连接状态的一种多段功能测试装置。
技术介绍
由于电子装置的功能日益增加，多重功能必须建立于一主机板上来使用，因此使得现今主机板必须增加许多配置以达到需求，当然以上原因更使得主机板于制作完成后，必须经过多道的测试步骤才可确认该主机板是否合格，而至今每一道测试步骤都需由单一的测试装置进行检测，请参阅图1A及图1B所示，其为现有的待测基板功能测试装置(治具)实施例立体及剖视结构示意图，其中该测试装置1具有一承载座11，该承载座11上具有延伸相同一高度的多个顶针111，通过该承载座11提供承载其上具有电路布局的一待测基板2，使得当该待测基板2置于该承载座11上进行测试时，该多个顶针111可在该待测基板2上的电路布局进行适当接触，且通过该测试装置1相对应该承载座11的上方更具有一盖体12，该盖体12更延伸出有一凸伸臂121，该凸伸臂121可沿左右二侧分别具有的一导杆13延伸方向进行线性位移运动，当该盖体12进行向下的线性位移运动时，恰会使得该盖体12可进行压迫该待测基板2，由此可使得该待测基板2上的电路布局与该多个顶针111确切接触，将该待测基板2的电路布局进行电讯信号传递以供测试，以测试该待测基板2是否合乎需求。对于现今的该待测基板2则必须经过多道的测试步骤才可确认是否合格的要求下，以上该测试装置1仅可对该待测基板2上的电路布局进行单一功能测试，因此必须设置多个类似测试装置1分别以不同的多个顶针111排列方式，进行对该待测基板2上的电路布局进行不同电讯信号的多道测试步骤，但如此却造成必须制作多个测试装置1去进行测试步骤，增加制作该测试装置的成本，而经常更替其测试装置以导致测试时间的增加，以及会因为人为疏失使得待测基板不合格率增加等缺失，无形中造成了该产业支付成本的增加，此乃产业间急需解决的问题，以降低支付成本提高产业的竞争力，该问题的突破解决实为刻不容缓。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一种多段功能测试装置，其可在同一测试装置上进行待测基板的多段功能测试，以达到减少更换测试装置的测试时间以及减少制作测试装置的成本。本技术的次要目的在于提供一种多段功能测试装置，其可使得待测基板在同一测试装置上进行测试，以达到降低更换测试的人为疏失以及降低待测基板不合格率的功效。本技术的另一目的在于提供一种多段功能测试装置，其可进行待测基板的功能测试，以达到提高待测基板产品品质的功效。为达上述目的，本技术提供一种多段功能测试装置，其包括有一承载座、一测试座、多个弹性体、一盖体以及一偏移装置。该承载座具有可提供置放一待测物的一容置空间，该容置空间布设有贯穿该承载座的多个通孔。该测试座具有至少一组不同高度的多个顶针，该多个顶针的位置分别对应于该多个通孔。该弹性体连接该承载座与该测试座，使该测试座与该承载座相距一距离。该盖体可与该承载座相贴靠，该盖体还具有延伸出该承载座的一凸伸臂。该偏移装置具有一轴心以及一曲面，该曲面上的不同位置是与该轴心相距不同长度距离，该曲面通过该盖体与该承载座相贴靠时可提供该凸伸臂抵靠。其中当该盖体与该承载座相贴靠时，通过该凸伸臂压迫该曲面上的不同位置，通过该多个弹性体形变，以改变该承载座与该测试座相距的距离。附图说明图1A为现有的待测基板功能测试装置实施例立体结构示意图； 图1B为现有的待测基板功能测试装置实施例剖视结构示意图；图2A为本技术的多段功能测试装置较佳实施例立体结构示意图；图2B为本技术的多段功能测试装置较佳实施例剖面结构示意图；图3为本技术的偏移装置旋转圆周运动相对应线性位移状态示意图；图4A至图4D为本技术的多段功能测试装置剖面连续动作较佳实施例示意图。具体实施方式本技术的主要技术精神是当进行待测基板的功能测试时，通过多段功能测试装置的一偏移装置使提供测试的时间差以及位移落差，进而达到待测基板多段功能测试的功效。以下将举出若干较佳实施例详细说明本技术的多段功能测试装置的详细手段、动作方式、达成功效、以及本技术的其它技术特征。请参阅图2A及图2B所示，其为本技术的多段功能测试装置较佳实施例立体及剖面结构示意图，本技术的多段功能测试装置3包括有一承载座31、一测试座32、多个弹性体34、一盖体35以及一偏移装置36。该承载座31具有可提供置放一待测物4的一容置空间311，该容置空间311更布设有贯穿该承载座31的多个通孔312，该待测物4为其上具有电路布局的一电路基板，而该测试座32具有至少一组不同高度h、h’的多个顶针33、33a，该多个顶针33、33a包括一第一组顶针33与一第二组顶针33a，该第一组顶针33比该第二组顶针33a为高，且该多个顶针33、33a的位置分别对应于该多个通孔312，在本技术较佳实施例中，该顶针33、33a其贯穿该测试座32而延伸出该测试座32的底面，且该顶针33、33a为一弹性组件，可通过施力压迫进行适当高度(h-h’)的位移运动，使得该多个顶针33、33a可与该待侧物4进行接触连接，且提供不同的电子信号进行测试。该弹性体34连接该承载座31与该测试座32，使该测试座32与该承载座31相距一距离s，在本技术较佳实施例中，该弹性体34中还具有沿一固定方向91延伸的一定位体341，通过该定位体341可使得该弹性体34可沿该定位体341的延伸方向91进行一线性位移运动，相对限制该承载座31仅能固定沿该定位体341延伸方向91位于该测试座32上进行线性位移运动。而该盖体35可与该承载座31相贴靠，该盖体35还具有延伸出该承载座31的一凸伸臂351，在本技术较佳实施例中，该凸伸臂351还具有一开孔352，该开孔352可与一导杆37相连接，使该盖体35沿该导杆37延伸方向92作一线性位移运动。该偏移装置36具有一轴心361以及一曲面362，因此该偏移装置36其为一凸轮结构或是为一偏心轮结构，请参阅图3所示，其为本技术的偏移装置旋转圆周运动相对应线性位移状态示意图，本技术该偏移装置36可通过该轴心361为中心进行一旋转运动，由于该曲面362上的不同位置与该轴心361相距不同长度距离，即设作用点C距离该轴心361的长度L为最长，且作用点A距离该轴心361的长度L’为最短，此时当该偏移装置36以该轴心361为中心进行旋转至作用点C时，会使得处于D位置的对象相对于该轴心361的线性距离为最长，即D位置的对象位于最高处，而当该偏移装置36经过旋转90度至作用点A时，使得处于D位置的对象相对于该轴心361的线性距离为最短，即D位置的对象位于最低处，因此当进行该偏移装置36的旋转运动时，会使得D位置的对象进行L-L’间的线性间距运动。以上本技术该曲面362通过该盖体35与该承载座31相贴靠时可提供该凸伸臂351抵靠，当该盖体35与该承载座31相贴靠时，通过该凸伸臂351压迫该曲面362上的不同位置，使得该多个弹性体34进行形变，改变该承载座31与该测试座32相距的距离。请参阅图4A至图4D所示，其为本技术的多段功能测试装置剖面连续动作较佳实施例示意图，以下所述的本技术连续动作较佳实施例中，因大部份的组件相同于前述实本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘丰吉，
申请(专利权)人：明基电通股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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