一种反射式的全息光存储装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种反射式的全息光存储装置，包括：共轭参考光加载装置；普通再现光接收装置；及共轭再现光接收装置，共轭参考光加载装置将参考光形成共轭参考光，参考光产生普通再现光，共轭参考光产生共轭再现光，并且普通再现光与信号光相对存储介质的法线对称且反向，共轭再现光与信号光同轴反向。利用本装置可实现在存储介质同侧实现全息图的记录和读取。整个系统更加紧凑，降低了设计难度并增加了系统稳定性。此外，产生的再现光和相位共轭再现光可以在同一轴上产生，可以实现两者的相干叠加，通过这种相干叠加，再现图像的强度可以提高四倍，从而大大提高信噪比。

【技术实现步骤摘要】
一种反射式的全息光存储装置
本技术涉及于光全息存储
，具体涉及一种反射式的全息光存储装置。
技术介绍
球面参考光束移位复用方法将球面波作为参考光束来记录全息图，此时，光束相对于介质的一个微小位移就会导致全息图不能得到再现，于是便可以在该位置处记录一个新的全息图并使相邻全息图可以单独再现，如此重复多次，这种方法叫做移位复用记录。在这种记录/再现方法中，通常使用的是透射方式，即信号光和参考光透过介质的类型。但是，该方法需要将记录和读取装置分别放置在介质的两侧，这会使得光驱复杂化。因此，有必要设计一种存储装置，能在存储介质同侧实现全息图的记录和读取。
技术实现思路
本技术提供了一种反射式的全息光存储装置，利用反射层形成新的参考光，从而获得全息图的相位共轭再现信号光，在存储介质同侧实现全息图的记录和读取。整个系统更加紧凑，降低了设计难度并增加了系统稳定性。本技术提供的反射式的全息光存储装置，包括：共轭参考光加载装置；普通再现光接收装置；及共轭再现光接收装置，共轭参考光加载装置将参考光形成共轭参考光，参考光产生普通再现光，共轭参考光产生共轭再现光，由于反射层的反射作用，普通再现光与信号光相对存储介质的法线对称且反向，共轭再现光与信号光同轴反向。参考光沿存储介质的法线射入存储介质时，共轭参考光加载装置为镀在存储介质上的反射层，反射层所在侧为参考光入射的另一侧。参考光不沿存储介质的法线射入存储介质时，共轭参考光加载装置为镀在存储介质上的反射层和设在经反射层反射后的参考光的光路上的反射镜。信号光沿法线射入存储介质时，产生的普通再现光与共轭再现光同向，普通再现光接收装置与共轭再现光接收装置为同一个接收装置。利用本技术提供的反射式的全息光存储装置，将普通再现光接收装置和共轭再现光接收装置置于存储介质的同一侧，且位于参考光和信号光入射的同侧。参考光和信号光在镀有反射层的存储介质上干涉形成全息图，全息图再现时，经反射层的反射，参考光产生与信号光相对存储介质的法线对称且反向的普通再现光；加载共轭参考光，产生与信号光同轴反向的共轭再现光。参考光沿法线射入存储介质时，经反射层反射后形成共轭参考光。参考光不沿法线射入存储介质时，经反射层和反射镜反射后形成共轭参考光。优选地，参考光先后两次经反射层反射，及在两次反射层反射之间经反射镜反射沿原光路反射形成共轭参考光。反射光沿法线射入存储介质时，全息光再现时，产生的普通再现光与共轭再现光同向，可用同一再现光接收装置接收，进行想干叠加。为了实现交叉移位复用存储，还包括支撑光盘进行移动的平移台。所述平移台包括光头定位机构，用于实现光头的定位，使其位于准确位置，然后开始全息图的记录/再现。所述平移台包括步进平移机构，所述步进平移机构控制平移台支撑光盘沿全息存储复用方向以全息存储移位复用时所移动的距离为步进距离进行平移。所述平移台还包括平移和/或转动和/或翻转定位机构，使存储介质进行平移、转动或翻转，将光头定位至复用位置，实现交叉移位复用。通过使用镀有反射层的介质来加载共轭参考光，可以获得相位共轭再现光。相位共轭光波是指在空间上与原光波具有相同波前但在相反方向上传播的光波。在全息存储中，相位共轭再现光具有校正波前波动、透镜像差等功能。此外，再现光和相位共轭再现光可以在同一轴上产生，可以实现两者的相干叠加，通过这种相干叠加，再现图像的强度可以提高四倍，从而大大提高信噪比。附图说明图1为球面参考光的移位复用记录原理图。图2为交叉移位复用原理图。图3为球面参考光的全息记录/再现原理图。图4为球面参考光的相位共轭反射再现原理图。图5为球面参考光的相位共轭再现光与正常再现光相干叠加的方法原理图。具体实施方式本技术附图仅用于示例性说明，不能理解为对本技术的限制。为了更好说明以下实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对于本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明可能省略是可以理解的。实施例如图1所示，信号光与参考光入射面重合，以入射面与介质表面的交线为轴，在记录一个全息图后令介质沿该轴移动一个微小距离，会引起布拉格条件的失配而使全息图无法再现，于是便可以记录一个新的全息图并保证相邻全息图可以独立再现，即移位复用记录。在这种移位复用方法中，介质在轴向上仅需偏移数微米就可以使得全息图无法再现，但在垂直于该轴的方向上，使全息图无法再现所要求的位移量却非常大，正是由于这个原因，无法实现高密度存储。本实施例所述的全息光存储装置可采用交叉移位复用记录方法进行交叉移位复用，交叉移位复用记录方法如图2所示，该方法通过在轴向上执行移位复用记录得到二维的全息图阵列，然后将介质旋转一定角度后，进行第二次移位复用的覆盖记录，如此重复，称之为交叉移位复用记录，解决了球面波移位复用记录方法复用数不足的问题。在透射情况下，使用球面参考光记录/再现全息图的一个示例如图3所示，信号光和参考光同时入射到介质上，两者发生干涉并在介质中形成全息图，再现时在同一位置使用相同的参考光入射，便能在信号光方向上检测到再现光，称为普通再现光。另一方面，用于产生相位共轭再现光的共轭参考光从另一侧入射，由于与原参考光同轴反向，此时得到的再现信号光将沿与信号光相反的方向传播，该再现信号光为共轭再现光。同时，记录过程中由光学系统产生的图像失真、像差等可以自动校正和检测，从而提高信噪比。根据本实施提供的反射式的全息光存储装置，为了在存储介质同侧实现全息图的记录和读取，使整个系统更加紧凑，降低设计难度并增加了系统稳定性，包括共轭参考光加载装置；普通再现光接收装置；及共轭再现光接收装置，共轭参考光加载装置将参考光形成共轭参考光，参考光产生普通再现光，共轭参考光产生共轭再现光，并且普通再现光与信号光相对存储介质的法线对称且反向，共轭再现光与信号光同轴反向。如图4所示，参考光沿存储介质的法线射入存储介质时，共轭参考光加载装置为镀在存储介质上的反射层，反射层所在侧为参考光入射的另一侧。参考光沿法线射入存储介质，经反射层反射后形成共轭参考光。即球面参考光垂直入射到镀有反射层的介质上，并与入射到介质上的信号光干涉形成全息图。信号再现时，使用同一束参考光入射介质，一方面，参考光直接再现得到的普通再现光由反射层反射后从介质右侧出射；另一方面，入射的参考光被反射层反射形成共轭参考光，与原参考光同轴且反向，该共轭参考光再现得到相位共轭再现。在该方法中，再现光和相位共轭再现光可以同时再现。参考光不沿存储介质的法线射入存储介质时，共轭参考光加载装置为镀在存储介质上的反射层和设在经反射层反射后的参考光的光路上的反射镜。实施过程中，参考光不沿法线射入存储介质时，经反射层和反射镜反射后形成共轭参考光。优选地，参考光先后两次经反射层反射，及在两次反射层反射之间经反射镜反射沿原光路反射形成共轭参考光。反射光沿本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种反射式的全息光存储装置，其特征在于，包括：/n共轭参考光加载装置；/n普通再现光接收装置；及/n共轭再现光接收装置，/n共轭参考光加载装置将参考光形成共轭参考光，参考光产生普通再现光，共轭参考光产生共轭再现光，并且普通再现光与信号光相对存储介质的法线对称且反向，共轭再现光与信号光同轴反向。/n

【技术特征摘要】
1.一种反射式的全息光存储装置，其特征在于，包括：
共轭参考光加载装置；
普通再现光接收装置；及
共轭再现光接收装置，
共轭参考光加载装置将参考光形成共轭参考光，参考光产生普通再现光，共轭参考光产生共轭再现光，并且普通再现光与信号光相对存储介质的法线对称且反向，共轭再现光与信号光同轴反向。


2.根据权利要求1所述的全息光存储装置，其特征在于，参考光沿存储介质的法线射入存储介质时，共轭参考光加载装置为镀在存储介质上的反射层，反射层所在侧为参考光入射的另一侧。


3.根据权利要求1所述的全息光存储装置，其特征在于，参考光不沿存储介质的法线射入存储介质时，共轭参考光加载装置为镀在存储介质上的反射层和设在经反射层反射后的参考光的光路上的反射镜。


4.根据权利要求3所述的全息...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑穆，罗铁威，田军，胡德骄，刘义诚，
申请(专利权)人：广东紫晶信息存储技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44