一种薄膜电阻测试仪制造技术

技术编号:2643245 阅读:272 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种薄膜电阻测试仪,包括电阻测试仪主体、与测试仪主体引出的测试线相连的测试头(5)和固定测试头(5)的测试支架,所述测试头(5)的上端和测试仪主体引出的测试线相连,下端用于和待侧元件接触,测试头(5)可在所述测试支架上移动。采用这种结构的薄膜电阻测试仪可提高测试结果的稳定性和准确性。(*该技术在2016年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种薄膜电阻测试仪,包括电阻测试仪主体、与测试仪主体引出的测试线相连的测试头(5),其特征是:还包括固定测试头(5)的测试支架,所述测试头(5)的上端和测试仪主体引出的测试线相连,下端用于和待侧元件接触。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王叔明栗金鹏张鹏李明文王道敏
申请(专利权)人:比亚迪股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:94[中国|深圳]

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