一种PCB板测试仪的测试电路制造技术

本实用新型专利技术涉及一种测量仪器，更具体地说，为一种ＰＣＢ板仪的测试电路。测试信号源提供恒定电压连接两个ＰＮＰ三极管Ｑ１、Ｑ３的反射极，此ＰＮＰ三极管基极Ｑ１、Ｑ３串联一个电阻与信号源ＳＣ连接，此ＰＮＰ三极管Ｑ１、Ｑ３集电极分别引出测量触点Ｐ１、Ｐ２，同时测量触点Ｐ１、Ｐ２分别与两个ＮＰＮ三极管Ｑ２、Ｑ４的集电极相连，此ＮＰＮ三极管Ｑ２、Ｑ４的基极分别串联一个电阻并同时与控制源ＳＫ连接，这种结构的测试电路，能够测量对高电压的触点进行测量，并能够保证测量的精度和速度。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量仪器，更具体的说，为一种PCB板仪的测 试电路。技术背景一般的PCB的低电阻测试仪一般采用电流电压法测试原理，也称四端 测试技术，其原理见图l。由电流源经"4， l"两端口 (也称I端口)供 给被测电阻Rx电流，电流的大小由电流表Ol读出。Rx两端的电压降由"2， 3"两个端口 (也称P端口、 V端口)取出，由电压表02读取。知道I、 V 后就可以算出被测电阻的阻值Rx=V/I。为了能够直接读取Rx的数值，可以采用恒流源使流过Rx的电流保 持不变，且为一个特定的整数，这样就可以把电压表02直接刻成毫欧刻 度。现代的毫欧计都是数字式亳欧计。此时电压表02由高输入阻抗的精 密电子放大器和数字显示器构成，可以直接显示出被测的阻值。这种结构的电阻测试仪，恒流源技术以及高输入阻抗的电子放大器，从而使測试引线的电阻、端口电阻和接触电阻等不会xdli试电阻造成影响，但是测试电流大了，除容易造成被測件损坏外，还由于大电流容易造 成被测件发热而使读数漂移、測试失准，且只能够测量电阻的较小的元件， 且测量速度较慢，不能够使用高压进行渊量。如龟子电压表灵敏度为20mV 满度值，如果最大测试电流为100inA，则最高满量程为200毫欧。
技术实现思路
本技术的针对现有技术不足，提供一种测量速度快，测量的点数多，并能够酎高压的PCB板仪器的溯试电路。本技术采用的一种pcB板測^:仪的测试电路，测试信号源提供恒定电压连接两个PNP三极管Ql 、 Q3的反射极，此PNP三极管基极Ql 、 Q3串联一个电阻与信号源SC连接，此PNP三极管Ql、 Q3集电极分别 引出测量触点Pl 、 P2，同时獬量触点Pl 、 P2分别与两个NPN三极管Q2、 Q4的集电极相连，此NPN三旨Q2、 Q4韵基极分别串联一个电組并周 时与^tr源SK连接，此NPN三极管Q2、 Q4发射极同对串联电阻Rs和电阻Rfr在电阻Rf并有电压測试表。本技术有益效果在于通过在測量触点设置的两个PNP三极管 QI、 和两个NPN三极管基极Q2、 Q4,分别连接有PNP三极管信号源 SC私NPN三极管控制源汰，能够測量对高电压的触点进行测量，并能 够保证测量的精度和速度。 附街说明附图说明图1为市场上的低电阻测试仪电路示意图 掛2为本技术的电路原理留具体实施方式以下仅为本技术较佳实施例，并不以此来限定本实甩新型的保护 范围。见图1所示，本技术采用的一种PCB板测试仪的测试电路，测 试信号源1提供恒定电,接两个PM>三极管Ql 、 Q3的反射极.，此PNP 三极管基极Ql、 牵联一个电阻与信号源SC2连接，此PNP三极管Ql、 Q3集电极分别引出测量触点P1、 P2,同时测量触点P1、 P2分别与两个 NPN三极管Q2、 Q4的集电极相连，此NPN三极管Q2、 Q4的基极分别 串联一个电阻并同时与控制源SK3连接，此NPN三极管Q2、 Q4发射极 同对串联电阻Rs和电阻Rf,在电阻Rf并有电压測试表。所述的PCB板测试仪的測试电路有256个。本技术的工作原理如下当渊量PIN1与PIN2连接待湖电阻Rx时，电压源已提供恒定的12V 电压，三极管开关ill&Ql与Q4开通，电压源1的通路已形成，电流从 Ql流过Rx ,经过Q4到达Rs最后由Rf回到恒压源负端。根据欧姆定 律I-Vrf/Ref ,其中Vrf:是AD转换得出的电压，Ref :是已知的电阻， 所以屈路上的总电流就可以得出。因測试回路为串联型，所以每一个节点 的电流相等，所以我们得到R-12V-Vrf /1 (R-Rql+Rx + Rq4 + Rs,其中Rql电阻是Ql三极管的导通电阻、Rq4电阻是Q4三极管的导 通电粗),最后得到Rx=R-Rql-Rq4-Rs(Hql、 Rq4、 Rs都是己知电祖)。本技术通过在測量触点设置的两个PNP三极管Ql、 Q3和两个 NPN三极管基极Q2、 Q4,分别连接有PNP三极管信号源SC2和NPN三 极管控制源SK3，能够测量对高电压的触点进行测量，并能够保证测量的精度和速度o权利要求1.一种PCB板测试仪的测试电路，其特征在于测试信号源提供恒定电压连接两个PNP三极管Q1、Q3的反射极，此PNP三极管基极Q1、Q3串联一个电阻与信号源SC连接，此PNP三极管Q1、Q3集电极分别引出测量触点P1、P2，同时测量触点P1、P2分别与两个NPN三极管Q2、Q4的集电极相连，此NPN三极管Q2、Q4的基极分别串联一个电阻并同时与控制源SK连接，此NPN三极管Q2、Q4发射极同时串联电阻Rs和电阻Rf，在电阻Rf并有电压测试表。2. 根据权利要求1所述的PCB板測试仪的測^;电路，其特征在于 所述的PCB板测试仪的測试电路有256个。专利摘要本技术涉及一种测量仪器，更具体地说，为一种PCB板仪的测试电路。测试信号源提供恒定电压连接两个PNP三极管Q1、Q3的反射极，此PNP三极管基极Q1、Q3串联一个电阻与信号源SC连接，此PNP三极管Q1、Q3集电极分别引出测量触点P1、P2，同时测量触点P1、P2分别与两个NPN三极管Q2、Q4的集电极相连，此NPN三极管Q2、Q4的基极分别串联一个电阻并同时与控制源SK连接，这种结构的测试电路，能够测量对高电压的触点进行测量，并能够保证测量的精度和速度。文档编号G01R27/02GK201041575SQ200620065478公开日2008年3月26日 申请日期2006年10月12日 优先权日2006年10月12日专利技术者杨世光 申请人:杨世光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种ＰＣＢ板测试仪的测试电路，其特征在于：测试信号源提供恒定电压连接两个ＰＮＰ三极管Ｑ１、Ｑ３的反射极，此ＰＮＰ三极管基极Ｑ１、Ｑ３串联一个电阻与信号源ＳＣ连接，此ＰＮＰ三极管Ｑ１、Ｑ３集电极分别引出测量触点Ｐ１、Ｐ２，同时测量触点Ｐ１、Ｐ２分别与两个ＮＰＮ三极管Ｑ２、Ｑ４的集电极相连，此ＮＰＮ三极管Ｑ２、Ｑ４的基极分别串联一个电阻并同时与控制源ＳＫ连接，此ＮＰＮ三极管Ｑ２、Ｑ４发射极同时串联电阻Ｒ↓［Ｓ］和电阻Ｒ↓［ｆ］，在电阻Ｒ↓［ｆ］并有电压测试表。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨世光，
申请(专利权)人：杨世光，
类型：实用新型
国别省市：44[中国|广东]