【技术实现步骤摘要】
一种光谱-偏振成像测量系统
本技术属于光学
，具体涉及光谱-偏振成像测量系统。
技术介绍
随着技术的发展，仅依赖于对物体发光光强进行探测的传统的成像技术已逐渐不能满足人们的需要。近年来，人们将光谱技术、偏振测量技术和成像技术相结合，寻求构建光谱-偏振成像测量系统。人们在获取物体二维光强信息的同时，还可以获取一维光谱信息，以及物体的偏振特性。基于物体的光谱信息与偏振特性，人们将可以显著提升对目标进行探测与辨识的能力，扩展信息维度。然而，光谱-偏振成像测量作为一种新兴技术，人们仍然在对其进行不断探索。虽然目前已发展出多种高光谱成像方法以及偏振成像测量方法，但如何将两者有机结合，实现光谱-偏振成像测量，仍是需要研究的课题。比如，现有的光谱成像方法通常借助光栅进行推扫式采样，测量相对复杂；而偏振测量方法则需要多个进行机械旋转的部件，因而其系统稳定性会受到影响。如何优化光谱成像与偏振测量是构建光谱-偏振成像测量系统的一个挑战性的难题。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术的不足，提供一种光谱-偏振...
【技术保护点】
1.一种光谱-偏振成像测量系统，其特征在于，包括偏振光产生模组、滤光模组与偏振成像测量模组三个部分；所述的偏振光产生模组产生特定偏振态的偏振光并以之照射待测物体，滤光模组对待测物体发出的光进行滤光，偏振成像测量模组对通过滤光模组的光进行偏振分光与偏振成像；所述的滤光模组是一种对入射光偏振态不敏感的可用电调控的带通滤光器。/n
【技术特征摘要】
20200118 CN 20202011472161.一种光谱-偏振成像测量系统，其特征在于，包括偏振光产生模组、滤光模组与偏振成像测量模组三个部分；所述的偏振光产生模组产生特定偏振态的偏振光并以之照射待测物体，滤光模组对待测物体发出的光进行滤光，偏振成像测量模组对通过滤光模组的光进行偏振分光与偏振成像；所述的滤光模组是一种对入射光偏振态不敏感的可用电调控的带通滤光器。
2.根据权利要求1所述的一种光谱-偏振成像测量系统，其特征在于，所述的偏振光产生模组包括宽带光源、偏振片和消色差的第一四分之一波片；所述的宽带光源是光谱带宽包含待测光谱范围的光源。
3.根据权利要求1或2所述的一种光谱-偏振成像测量系统，其特征在于，所述的偏振光产生模组根据测量需要取舍，测量待测物体的穆勒矩阵，偏振光产生模组需要保留，测量待测物体发出的光的斯托克斯参量，偏振光产生模组去除。
4.根据权利要求2所述的一种光谱-偏振成像测量系统，其特征在于，所述的偏振光产生模组中的偏振片和第一四分之一波片均安装于可电控旋转的镜架上，可分别绕光轴旋转任意角度。
5.根据权利要求1所述的一种光谱-偏振成像测量系统，其特征在于，所述的带通滤光器能透射特定中心波长的窄带光波，且透射光中心波长可通过改变施加于滤...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。