终端设备中射频电路的自动化测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种终端设备中射频电路的自动化测试系统，包括：多个射频测试通路，多个射频测试通路中的每个射频测试通路的两端分别与待测设备和测试设备相连；多个射频开关，多个射频开关设于多个射频测试通路中，用于控制多个射频测试通路的导通与断开；控制设备，控制设备与多个射频开关和测试设备分别相连，控制设备用于获取待测事项，并根据待测事项对多个射频开关进行控制以选择相应的射频测试通路导通，以及控制测试设备进行测试。该系统能够实现对待测设备中射频电路的不同测试类型的自动化测试，测试效率高，且所有测试均处于同一测试环境，测试准确度高，有效避免了手动测试存在的测试效率低、测试准确度不高的问题。

【技术实现步骤摘要】
终端设备中射频电路的自动化测试系统
本专利技术涉及射频通信
，尤其涉及一种终端设备中射频电路的自动化测试系统。
技术介绍
射频信号是指具有一定波长可用于无线电通信的电磁波，广泛应用于多种领域，尤其是终端设备。终端设备在出厂之前，制造商会对其性能进行测试。目前，对于终端设备的射频性能测试很多还停留在手动测试阶段，比如，LTE(LongTermEvolution，长期演进)、WCDMA(WidebandCodeDivisionMultipleAccess，带码分多址)或者GSM(GlobalSystemforMobilecommunications，全球移动通信系统)的谐波测试或杂散测试，以及LTE、WiFi和GNSS(GlobalNavigationSatelliteSystem，全球定位系统)之间的共存测试。针对这些测试，需要测试人员搭建不同的测试环境，并在测试过程中根据测试需求不断更换射频器件，同时需要测试人员手动操作测试仪器并对测试数据进行记录，测试效率很低，同时因不断更换测试环境，对测试结果的准确性具有一定的影响。
技术实现思路
本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的一个目的在于提出一种终端设备中射频电路的自动化测试系统，该系统能够实现对待测设备中射频电路的不同测试类型的自动化测试，测试效率高，且所有测试均处于同一测试环境，测试准确度高，有效避免了手动测试存在的测试效率低、测试准确度不高的问题。为达到上述目的，本专利技术第一方面实施例提出了一种终端设备中射频电路的自动化测试系统，包括：多个射频测试通路，多个射频测试通路中的每个射频测试通路的两端分别与待测设备和测试设备相连；多个射频开关，多个射频开关设于多个射频测试通路中，用于控制多个射频测试通路的导通与断开；控制设备，控制设备与多个射频开关和测试设备分别相连，控制设备用于获取待测事项，并根据待测事项对多个射频开关进行控制以选择相应的射频测试通路导通，以及控制测试设备进行测试。根据本专利技术实施例的终端设备中射频电路的自动化测试系统，设置有多个射频测试通路、多个射频开关和控制设备，其中多个射频测试通路中的每个射频测试通路的两端分别与待测设备和测试设备相连，多个射频开关设于多个射频测试通路中，用于控制多个射频测试通路的导通与断开，控制设备与多个射频开关和测试设备分别相连，用于获取待测事项，并根据待测事项对多个射频开关进行控制以选择相应的射频测试通路导通，以及控制测试设备进行测试。该系统中集成有多个射频测试通路，且多个射频测试通路中设置有多个射频开关，在测试过程中，通过控制设备对多个射频测试开关进行控制以选择相应的射频测试通路，并对测试设备进行控制，以实现对待测设备中射频电路的不同测试类型的自动化测试，测试效率高，且所有测试均处于同一测试环境，测试准确度高，有效避免了手动测试存在的测试效率低、测试准确度不高的问题。另外，根据本专利技术上述实施例的终端设备中射频电路的自动化测试系统，还可以具有如下的附加技术特征：根据本专利技术的一个实施例，多个射频测试通路包括：谐波测试通路、杂散测试通路、LTE与WiFi共存测试通路、LTE与GPS共存测试通路中的多种。根据本专利技术的一个实施例，谐波测试通路包括：第一滤波器，第一滤波器的一端依次通过第一射频开关、第一耦合器与待测设备相连通，第一滤波器的另一端通过第二射频开关与测试设备中的信号测试仪相连通，第一耦合器还通过第三射频开关与测试设备中的原始信号源相连通。根据本专利技术的一个实施例，杂散测试通路包括：第二滤波器，第二滤波器的一端依次通过第一射频开关、第一耦合器与待测设备相连通，第二滤波器的另一端通过第二射频开关与信号测试仪相连通，第一耦合器还通过第三射频开关与测试设备中的原始信号源相连通。根据本专利技术的一个实施例，第一滤波器和第二滤波器均包括多个。根据本专利技术的一个实施例，LTE与WiFi共存测试通路包括：第一合路器，第一合路器的第一输入端通过第三射频开关与原始信号源相连通，第一合路器的第二输入端依次通过第四射频开关、衰减器、第二耦合器与测试设备中的第一干扰源相连通，第一合路器的输出端依次通过第一射频开关、第一耦合器与待测设备相连通。根据本专利技术的一个实施例，LTE与GPS共存测试通路包括：第二合路器，第二合路器的第一输入端通过第三射频开关与原始信号源相连通，第二合路器的第二输入端依次通过第四射频开关、衰减器、第二耦合器与第一干扰源相连通；第三合路器，第三合路器的第一输入端与第二合路器的输出端相连通，第三合路器的第二输入端与测试设备中的第二干扰源相连通，第三合路器的输出端依次通过第一射频开关、第一耦合器与所述待测设备相连通。根据本专利技术的一个实施例，第一耦合器和第二耦合器还分别连接有信令连接仪器。根据本专利技术的一个实施例，衰减器为可控衰减器，其中，控制设备还与可控衰减器相连，用于调整可控衰减器的衰减量。附图说明图1为根据本专利技术一个实施例的终端设备中射频电路的自动化测试系统的结构示意图；图2为根据本专利技术一个实施例的谐波测试通路的结构示意图；图3为根据本专利技术一个实施例的杂散测试通路的结构示意图；图4为根据本专利技术一个实施例的LTE与WiFi共存测试通路的结构示意图；图5为根据本专利技术一个实施例的LTE与GPS共存测试通路的结构示意图；图6为根据本专利技术一个具体示例的终端设备中射频电路的自动化测试系统的结构示意图；图7为根据本专利技术一个具体示例的终端设备中射频电路的自动化测试过程示意图。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。下面参考附图描述本专利技术实施例提出的终端设备中射频电路的自动化测试系统。图1为根据本专利技术一个实施例的终端设备中射频电路的自动化测试系统的结构示意图。参考图1所示，该终端设备中射频电路的自动化测试系统可包括：多个射频测试通路10、多个射频开关20、测试设备30和控制设备(图中未具体示出)。其中，多个射频测试通路10中的每个射频测试通路(如射频测试通路11、射频测试通路12、…、射频测试通路1M)的两端分别与待测设备和测试设备30相连；多个射频开关20(如射频开关21、…、射频开关2N)设于多个射频测试通路10中，用于控制多个射频测试通路10的导通与断开；控制设备与多个射频开关20和测试设备30分别相连，控制设备用于获取待测事项，并根据待测事项对多个射频开关20进行控制以选择相应的射频测试通路(如射频测试通路11或者射频测试通路12等)导通，以及控制测试设备30进行测试。具体来说，参考图1所示，多个射频测试通路10中的每个射频测试通路对应一种待测事项，即每个待测事项对应一个射频测试通路，例如谐波测试对应射频测试通路11、杂散本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种终端设备中射频电路的自动化测试系统，其特征在于，包括：/n多个射频测试通路，所述多个射频测试通路中的每个射频测试通路的两端分别与待测设备和测试设备相连；/n多个射频开关，所述多个射频开关设于所述多个射频测试通路中，用于控制所述多个射频测试通路的导通与断开；/n控制设备，所述控制设备与所述多个射频开关和所述测试设备分别相连，所述控制设备用于获取待测事项，并根据所述待测事项对所述多个射频开关进行控制以选择相应的射频测试通路导通，以及控制所述测试设备进行测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种终端设备中射频电路的自动化测试系统，其特征在于，包括：
多个射频测试通路，所述多个射频测试通路中的每个射频测试通路的两端分别与待测设备和测试设备相连；
多个射频开关，所述多个射频开关设于所述多个射频测试通路中，用于控制所述多个射频测试通路的导通与断开；
控制设备，所述控制设备与所述多个射频开关和所述测试设备分别相连，所述控制设备用于获取待测事项，并根据所述待测事项对所述多个射频开关进行控制以选择相应的射频测试通路导通，以及控制所述测试设备进行测试。


2.根据权利要求1所述的终端设备中射频电路的自动化测试系统，其特征在于，所述多个射频测试通路包括：谐波测试通路、杂散测试通路、LTE与WiFi共存测试通路、LTE与GPS共存测试通路中的多种。


3.根据权利要求2所述的终端设备中射频电路的自动化测试系统，其特征在于，所述谐波测试通路包括：第一滤波器，所述第一滤波器的一端依次通过第一射频开关、第一耦合器与所述待测设备相连通，所述第一滤波器的另一端通过第二射频开关与所述测试设备中的信号测试仪相连通，所述第一耦合器还通过第三射频开关与所述测试设备中的原始信号源相连通。


4.根据权利要求3所述的终端设备中射频电路的自动化测试系统，其特征在于，所述杂散测试通路包括：第二滤波器，所述第二滤波器的一端依次通过所述第一射频开关、所述第一耦合器与所述待测设备相连通，所述第二滤波器的另一端通过所述第二射频开关与所述信号测试仪相连通，所述第一耦合器还通过所述第三射频开关与所述原始信号源相连通。


5.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴迎春，王赟，
申请(专利权)人：合肥移瑞通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34