背光模组的补偿方法和补偿系统技术方案

本申请实施例公开了一种背光模组的补偿方法和补偿系统。所述方法包括：测试主机向控制主板发送测试指令，所述测试指令用于指示所述控制主板读取预先存储的测试图像数据，以及基于所述测试图像数据在背光模组上显示测试画面；或测试主机向控制主板发送测试图像数据；通过图像采集装置采集所述测试画面得到待补偿测试图像数据，基于所述待补偿图像数据生成补偿值数据；通过烧录器将所述补偿值数据写入所述背光模组的非易失性存储器中对所述测试图像数据进行补偿。本申请通过上述方法，对交互平板显示器上的测试画面进行Demura方案时，不再通过信号发生器产生测试图像数据，使得背光模组的补偿系统不再需要使用信号发生器，减少了硬件成本。

【技术实现步骤摘要】
背光模组的补偿方法和补偿系统
本申请涉及显示
，尤其涉及一种背光模组的补偿方法和系统。
技术介绍
随着光电和半导体电子技术的发展，带动了平板显示装置的发展，平板显示装置具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用，在生活中随处可见。现如今，平板显示装置主要包括液晶显示装置(LiquidCrystalDisplay，LCD)及有机发光二极管显示装置(OrganicLightEmittingDisplay，OLED)，显示面板生产过程中由于生产工艺等原因经常会产生Mura现象，主要是显示面板亮度不均匀造成各种痕迹的现象，影响了显示面板的显示效果。
技术实现思路
本申请实施例提供了一种背光模组的补偿方法和补偿系统，旨在解决相关技术中在对交互平板显示器的显示画面进行Demura时，硬件成本较高的技术问题。所述技术方案如下：第一方面，本申请实施例提供了一种背光模组的补偿方法，所述方法包括：测试主机向控制主板发送测试指令；其中，所述测试指令用于指示所述控制主板读取预先存储的测试图像数据，以及基于所述测试图像本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种背光模组的补偿方法，其特征在于，所述方法包括：/n测试主机向控制主板发送测试指令；其中，所述测试指令用于指示所述控制主板读取预先存储的测试图像数据，以及基于所述测试图像数据在背光模组上显示测试画面；或/n测试主机向控制主板发送测试图像数据；其中，所述控制主板基于所述基于所述测试图像数据在背光模组上显示测试画面；/n通过图像采集装置采集所述测试画面得到待补偿测试图像数据，基于所述待补偿测试图像数据生成补偿值数据；/n通过烧录器将所述补偿值数据写入所述背光模组的非易失性存储器中对所述测试图像数据进行补偿。/n

【技术特征摘要】
1.一种背光模组的补偿方法，其特征在于，所述方法包括：
测试主机向控制主板发送测试指令；其中，所述测试指令用于指示所述控制主板读取预先存储的测试图像数据，以及基于所述测试图像数据在背光模组上显示测试画面；或
测试主机向控制主板发送测试图像数据；其中，所述控制主板基于所述基于所述测试图像数据在背光模组上显示测试画面；
通过图像采集装置采集所述测试画面得到待补偿测试图像数据，基于所述待补偿测试图像数据生成补偿值数据；
通过烧录器将所述补偿值数据写入所述背光模组的非易失性存储器中对所述测试图像数据进行补偿。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过图像采集装置采集所述测试画面得到待补偿测试图像数据，基于所述待补偿测试图像数据生成补偿值数据，包括：
通过所述图像采集装置采集所述测试画面得到所述待补偿测试图像数据；
将待补偿测试图像数据划分为至少一个区域，计算所述至少一个区域各自的实际亮度值；
计算所述至少一个区域各自的理想亮度值，基于所述理想亮度值和所述实际亮度值得到各个区域的补偿值数据。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述通过烧录器将所述补偿值数据写入所述背光模组的非易失性存储器中对所述测试图像数据进行补偿，包括：
通过烧录器将所述各个区域的补偿值数据写入所述背光模组的非易失性存储器中；
在补偿值不等于预设值时，向所述控制主板发送亮度调节指令；其中，所述亮度调节指令用于指示所述控制主板将所述区域的实际亮度值调整至所述理想亮度值。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述在补偿值不等于预设值时，向所述控制主板发送亮度调节指令包括：
在所述补偿值大于预设值时，向所述控制主板发送亮度增大指令；其中，所述亮度增大指令用于指示所述控制主板将所述补偿值对应的区域的实际亮度值增大至所述理想亮度值。


5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述在补偿值不等于预设值时，向所述控制主板发送亮度调节指令...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄祥群，
申请(专利权)人：广州视源电子科技股份有限公司，广州视睿电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44