【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种集成电路的测试仪器和测试探头，其基本工作原理是利用充分显示数字集成电路的逻辑状态图来观察了解其真值表，从而判断该集成电路的功能是否正常。一个数字集成电路的全部逻辑状态图的集合就是它的真值表，通过数字集成电路的逻辑状态图，来判断该电路功能是否正常是一种形象、直观、简单，可靠的方法，它是以被测板上每个数字集成电路(IC)为对象的故障诊断法。这种诊断法与以被测系统或被测板为对象的诊断法相比具有很多优点。后者常常需要有完好的系统或印制板做对比测量，或要求在故障出现前进行全面测量，并把正常值记录存储下来作为对照，或者需要对系统进行全面激励，根据仪器症状进行分析追踪，维修者必须知道整个系统的工作原理、信号流程、信息流、特征值、故障诊断树……等，但这些要求往往难以满足。而前者只要求操作者了解每个IC应具备的功能即元件的真值表即可，这种方法可以体现数据域测试必须具备的多路性、同时性、非周期性，目前有不少测试方案基于这种方法，例如中国专利90214599.1，88211155.8，88211707.6，美国专利4348636、3670245，日本专利平2－205...
【技术保护点】
一种数字集成电路测试仪，包括被测ＩＣ夹（６），其特征在于还包括强迫驱动电路（１），逻辑状态判别及选通电路（２）和三态显示及瞬态锁定电路（３），强迫驱动电路（１）的输出信号可加到被测ＩＣ的输入端，被测ＩＣ的各路信号进入逻辑状态判别及选通电路（２），（２）的输出信号则进入三态显示及瞬态锁定电路（３）。
【技术特征摘要】
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