【技术实现步骤摘要】
剂量调制
本专利技术涉及一种用于借助结构化的阳极或借助场发射阴极或借助指状阴极头来确定X射线辐射的强度的方法，一种相关的X射线装置，一种相关的单X射线管计算机断层扫描仪，一种相关的双X射线管计算机断层扫描仪和一种相关的计算机程序产品。
技术介绍
借助X射线辐射对患者进行成像测量可能会需要对X射线辐射进行剂量调制。所述剂量调制通常对应于在成像测量期间尤其根据患者来调整X射线辐射的强度。通常能够借助于改变发射体的和/或发射体加热装置的加热电流来进行剂量调制。在常规的X射线管中，所述剂量调制的速度尤其受到X射线管的发射体的和/或发射体加热装置的热学特性的限制。例如，常规的扁平发射体能够借助于在发射体加热装置中流过的加热电流通过离开常规的发射体加热装置的加热电子而间接地加热，进而能够激发来自常规的扁平发射体的电子的发射。一种替选的扁平发射体或常规的发射体通常直接被加热电流穿流从而被激发以发射电子。X射线辐射的强度变化越大，该过程就通常由于相对缓慢的热学特性而持续越长的时间。尤其，在常规的X射线管中，X射线辐射的强度的显著降低...
【技术保护点】
1.一种用于借助结构化的阳极(19)来确定X射线辐射的强度的方法，所述方法具有下述步骤：/n-提供X射线管(11)，所述X射线管具有结构化的阳极(19)，所述结构化的阳极具有第一阳极微结构(20)和第二阳极微结构(21)，/n-在控制单元(15)中提供根据所述第一阳极微结构(20)的第一X射线辐射强度特征数和根据所述第二阳极微结构(21)的第二X射线辐射强度特征数，/n-在所述控制单元(15)中根据在成像测量时要检查的患者(P)确定所述X射线辐射的强度的第一期望值，/n-在所述控制单元(15)中根据所述X射线辐射的强度的所述第一期望值，选择所述第一X射线辐射强度特征数或所述...
【技术特征摘要】
20190520 EP 19175359.91.一种用于借助结构化的阳极(19)来确定X射线辐射的强度的方法，所述方法具有下述步骤：
-提供X射线管(11)，所述X射线管具有结构化的阳极(19)，所述结构化的阳极具有第一阳极微结构(20)和第二阳极微结构(21)，
-在控制单元(15)中提供根据所述第一阳极微结构(20)的第一X射线辐射强度特征数和根据所述第二阳极微结构(21)的第二X射线辐射强度特征数，
-在所述控制单元(15)中根据在成像测量时要检查的患者(P)确定所述X射线辐射的强度的第一期望值，
-在所述控制单元(15)中根据所述X射线辐射的强度的所述第一期望值，选择所述第一X射线辐射强度特征数或所述第二X射线辐射强度特征数作为第一期望值X射线辐射强度特征数，和
-为了生成所述X射线辐射，根据所选择的所述第一期望值X射线辐射强度特征数，将所述X射线管(11)的电子束定向到所述第一阳极微结构(20)上或定向到所述第二阳极微结构(21)上，由此确定所述结构化的阳极(19)的所述X射线辐射的强度。
2.根据权利要求1所述的方法，其中在所述控制单元(15)中根据在成像测量时要检查的患者(P)来确定所述X射线辐射强度的第二期望值，其中在所述控制单元(15)中根据所述X射线辐射的强度的第二期望值选择第二期望值X射线辐射强度特征数，并且其中根据所选择的所述第二期望值X射线辐射强度特征数，将所述X射线管(11)的电子束重新定向到所述第一阳极微结构(20)或所述第二阳极微结构(21)上。
3.根据权利要求2所述的方法，其中在根据所选择的所述第一期望值X射线辐射强度特征数定向所述电子束之后，在小于1s的电子束定向时间内，根据所选择的所述第二期望值X射线辐射强度特征数重新定向所述电子束。
4.根据权利要求3所述的方法，其中所述电子束定向时间小于1ms。
5.根据权利要求3或4所述的方法，其中所述电子束定向时间与所述成像测量的X射线检测器读取时间相匹配。
6.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其中所述第一阳极微结构(20)与所述第二阳极微结构(21)的区别在于下述参数中的至少一个参数：
-槽深，
-槽宽，
-中心点间距，
-在槽的打点中。
7.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其中所述电子束借助于电磁偏转单元或借助于韦纳尔圆柱体定向。
8.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其中提供具有第三阳极微结构(23)和第四阳极微结构(24)的另一结构化的阳极(22)作为另一X射线管(13)的一部分，其中在所述控制单元(15)中提供根据所述第三阳极微结构(23)的第三X射线辐射强度特征数和根据所...
【专利技术属性】
技术研发人员：迪特尔·马图苏克，安雅·弗里泰茨勒，马丁·彼得西尔卡，
申请(专利权)人：西门子医疗有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。