一种基于偏光调制的多参量全偏振态检测系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种基于偏光调制的多参量全偏振态检测系统，包括光源、偏光调制端、电路端、数据链路层设备和上位机端。本实用新型专利技术中，在偏振光的表述方法上采用了Stokes法，实现了包括完全偏振光和部分偏振光在内的全偏振态的参量测量，克服了传统仪器只可以实现完全偏振光的单一或少量偏振参量的检测的缺点；在原有Stokes参量的基础上增加了偏振度、线偏振度、圆偏振度、偏振消光比、方位角及椭圆率等6项推导参量，真正实现偏振光的多参量测量，信息利用度高，在应用中更具有参考意义；利用QT5编写的上位机实现了对偏振光的解调，以邦加球映射的方式直观地展示了偏振光的形态和各项参数。

【技术实现步骤摘要】
一种基于偏光调制的多参量全偏振态检测系统
本技术涉及光偏振态的检测
，更具体地说，特别涉及一种基于偏光调制的多参量全偏振态检测系统。
技术介绍
光偏振态是指光波振动在垂直于传播方向平面内的映射状态，是最具特殊价值的光学信息。目前，偏振检测技术已在光纤通信、偏振成像、生物医学等领域得到广泛应用。自然界中任何的光都存在某种程度上的偏振特性，该特性包含了光波中偏振量的形态、大小、相位等大量信息。光有非偏振光、完全偏振光和部分偏振光之分，而完全偏振光又包括线偏振光、圆偏振光和椭圆偏振光。当前，对光波偏振态的表述有三角函数法、琼斯矩阵法(Joanes)、穆勒矩阵法(Mueller)、Stokes参量法(Stokes)和邦加球法(Poincare)。由于Stokes参量最能完整地表述光波的偏振态，因而作为全偏振态检测的基本参量。公开号为CN108645516A的专利技术专利提出了基于快轴可调弹光调制的全Stokes矢量检测装置及方法。待测光源依次通过45°双驱动对称结构弹光调制器和检偏器后被光电探测器检测，经FPGA处理后实现入射光的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于偏光调制的多参量全偏振态检测系统，其特征在于，包括光源、偏光调制端、电路端、数据链路层设备和上位机端；/n所述偏光调制端包括步进电机、1/4波片、偏振片、平凸透镜和探测器；/n所述电路端包括信息处理单元和调节控制单元；/n所述信息处理单元包括光电转换电路、程控增益电路和信号调理电路；/n所述调节控制单元包括微处理器、电机驱动电路、过零检测电路和以太网通信电路；/n所述上位机端包括计算单元和显示单元。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于偏光调制的多参量全偏振态检测系统，其特征在于，包括光源、偏光调制端、电路端、数据链路层设备和上位机端；
所述偏光调制端包括步进电机、1/4波片、偏振片、平凸透镜和探测器；
所述电路端包括信息处理单元和调节控制单元；
所述信息处理单元包括光电转换电路、程控增益电路和信号调理电路；
所述调节控制单元包括微处理器、电机驱动电路、过零检测电路和以太网通信电路；
所述上位机端包括计算单元和显示单元。


2.根据权利要求1所述的一种基于偏光调制的多参量全偏振态检测系统，其特征在于，所述光源与偏光调制结构之间设置有光纤准直器。


3.根据权利要求1所述的一种基于偏光调制的多参量全偏振态检测系统，其特征在于，所述探测器为PIN光电探测器。


4.根据权利要求1所述的一种基于偏光调制的多参量全偏振态检测系统，其特征在于，所述1/4波片、偏振片和平凸透镜依次设置，与前置的光纤准直器和后置的光电探测器共同组成完整的光路部分，进入系统的偏振光经过光纤准直器照射在旋转的1/4波片上，被波片调制后的偏振光经过偏振片检偏后，再经过平凸透镜汇聚在PIN光电探测器。


5.根据权利要求1所述的一种基于偏光调制的多参量全偏振态检测系统，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：张诚，梁志军，吕佳铭，连欣，刘欧阳，
申请(专利权)人：天津工业大学，
类型：新型
国别省市：天津;12