熔滴缩颈检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种熔化极气体保护焊熔滴缩颈检测装置，在该装置中，光耦依次接一阶微分运算放大器、电压比较器、与门电路、单稳态触发器，所述一阶微分运算放大器还依次接二阶微分运算放大器、另一电压比较器和所述与门。本实用新型专利技术的熔滴缩颈检测装置结构简单，易于制作，却能有效地检测出熔滴缩颈形成的时刻，为在焊接中减少飞溅，对熔滴短路过渡状态进行实时控制奠定了可靠的基础。（*该技术在2007年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本技术是关于电弧焊的，更具体地说，本技术是关于熔化极气体保护焊熔滴缩颈检测装置的。在熔化极气体保护焊中，熔滴短路过渡是一个十分重要的问题。在短路过渡焊接中存在的一个棘手问题是熔滴缩颈形成的检测可靠性差的问题。本技术的目的是克服现有技术中的缺点，提供一种结构简单、使用方便，易于实施的熔滴缩颈检测装置。本技术的目的通过下述技术方案予以实现。本技术的熔滴缩颈检测装置是，光耦依次接一阶微分运算放大器、电压比较器、与门电路、单稳态触发器，所述一阶微分运算放大器还依次接二阶微分运算放大器、另一电压比较器和所述与门。以下结合附图对本技术作进一步描述。附图是本技术的电路原理图。在图中，经分压滤波后的电弧电压信号送入由熔滴短路电压控制的光耦O1。电压比较器L7为LM319，此处作为起频器，12脚输出频率为几十KHz的脉冲信号，O1为光耦，使仅有短路阶段的电压信号才能进入缩颈检测装置，燃弧电压信号由于光耦被关闭而不能进入缩颈检测电路，以此保证不会引起缩颈检测装置误判断。其中1脚接L2-12，4脚接L1-1。L9、L16为采样保持器LF398，其中L9-3接短路阶段的电压信号，8脚与L7-12相连，5脚为L9-3的采样保持信号。L16-3接L10-6，8脚与L7-12相连，5脚为L10-6的采样保持信号。L10，L11为运算放大器OP-07，其中L10的6脚输出为短路阶段电压的一阶微分信号，L11的6脚输出为短路阶段电压的二阶微分信号。L8为电压比较器LM319，其中5、10脚接阈值电压。所述阈值电压通过采集短路过渡过程中的电压信号，并对其进行一阶、二阶微分运算，将运算结果与熔滴及液体小桥的状态相对照，可得出，当液体小桥发生缩颈时电压一阶微分值为30～50伏／毫秒，二阶微分值为30000-50000伏／毫秒平方。L13为与门4081，L12为单稳触发器4098，4脚与L8-7相连，6脚输出为处理后的缩颈检测信号。本技术与现有技术相比有如下优点本技术利用熔滴短路后电弧电压的一阶微分和二阶微分来检测缩颈的形成。本熔滴缩颈检测装置结构简单，易于制作，却能可靠有效地检测出缩颈形成的时刻。利用本技术获得的缩颈检测信号，可以对熔化极气体保护焊熔滴短路过渡过程进行有效的实时控制。权利要求1．一种熔滴缩颈检测装置，其特征是，光耦依次接一阶微分运算放大器、电压比较器、与门电路、单稳态触发器，所述一阶微分运算放大器还依次接二阶微分运算放大器、另一电压比较器和所述与门。专利摘要本技术公开了一种熔化极气体保护焊熔滴缩颈检测装置,在该装置中,光耦依次接一阶微分运算放大器、电压比较器、与门电路、单稳态触发器,所述一阶微分运算放大器还依次接二阶微分运算放大器、另一电压比较器和所述与门。本技术的熔滴缩颈检测装置结构简单,易于制作,却能有效地检测出熔滴颈缩形成的时刻,为在焊接中减少飞溅,对熔滴短路过渡状态进行实时控制奠定了可靠的基础。文档编号G01R19/00GK2305675SQ9721968公开日1999年1月27日 申请日期1997年7月5日 优先权日1997年7月5日专利技术者李俊岳, 李桓, 王宗成, 杨杰, 谷宝峰, 张宝红 申请人:天津大学本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种熔滴缩颈检测装置，其特征是，光耦依次接一阶微分运算放大器、电压比较器、与门电路、单稳态触发器，所述一阶微分运算放大器还依次接二阶微分运算放大器、另一电压比较器和所述与门。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：李俊岳，李桓，王宗成，杨杰，谷宝峰，张宝红，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：实用新型
国别省市：12[中国|天津]