计算机断层摄影系统校准技术方案

本发明专利技术提供了用于计算机断层摄影系统的校准或准确性规范验证的方法和设备。在一个实施方案中，该设备可包括：基座结构；第一组测试对象，该第一组测试对象沿第一轴线布置并耦接到该基座结构；和第二组测试对象，该第二组测试对象沿第二轴线布置并耦接到该基座结构。该第一组测试对象和该第二组测试对象具有第一几何形状。该设备还可包括第三组测试对象和第四组测试对象。该第三组测试对象和该第四组测试对象具有与该第一几何形状不同的第二几何形状。该第一组测试对象、该第二组测试对象、该第三组测试对象和该第四组测试对象相对于该基座结构的位置在空间上是固定的。该设备是适于计算机断层摄影系统的校准或准确性验证的试样。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】计算机断层摄影系统校准相关申请的交叉引用本申请是要求于2018年3月30日提交的美国专利申请号15/941,310的优先权的权益的国际专利申请，该专利申请的全部公开内容以引用方式并入本文。
技术介绍
工业计算机断层摄影(CT)扫描系统通常可用于产生工业零件的三维表示。例如，工业CT扫描系统可有利于工业机器零件的非破坏性内部检查。因此，CT扫描可用于机器零件的缺陷检测、组装分析和故障分析。CT扫描涉及用电磁辐射(例如，X射线)辐照机器零件，并且检测由机器零件修改(例如，透射、反射等)的辐射的一部分。针对机器零件的各种取向并且在机器零件相对于辐射源的各种位置处重复这种过程。基于对机器零件的多个图像(例如，针对各种取向和位置)的检测，(例如，通过计算装置)可生成机器零件的三维表示。(例如，在测量之前)必须校准CT扫描系统以生成准确的三维表示。系统校准可涉及对扫描系统的尺寸测量能力和测量不确定性(例如，长度测量误差)的评估。这可通过扫描具有已知物理特性(例如，形状、尺寸、材料组成等)的测量体模并基于体模的生成的三维表示和已知几何形状计算测量不确定性来完成。<本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种设备，所述设备包括：/n基座结构；/n第一组测试对象，所述第一组测试对象沿第一轴线布置并耦接到所述基座结构；/n第二组测试对象，所述第二组测试对象沿第二轴线布置并耦接到所述基座结构，其中所述第一组测试对象和所述第二组测试对象具有第一几何形状；/n第三组测试对象，所述第三组测试对象沿第三轴线布置并耦接到所述基座结构；和/n第四组测试对象，所述第四组测试对象沿第四轴线布置并耦接到所述基座结构，其中所述第三组测试对象和所述第四组测试对象具有与所述第一几何形状不同的第二几何形状，/n其中所述第一组测试对象、所述第二组测试对象、所述第三组测试对象和所述第四组测试对象相对于所述基座结构的位置在空间...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180330 US 15/941,3101.一种设备，所述设备包括：
基座结构；
第一组测试对象，所述第一组测试对象沿第一轴线布置并耦接到所述基座结构；
第二组测试对象，所述第二组测试对象沿第二轴线布置并耦接到所述基座结构，其中所述第一组测试对象和所述第二组测试对象具有第一几何形状；
第三组测试对象，所述第三组测试对象沿第三轴线布置并耦接到所述基座结构；和
第四组测试对象，所述第四组测试对象沿第四轴线布置并耦接到所述基座结构，其中所述第三组测试对象和所述第四组测试对象具有与所述第一几何形状不同的第二几何形状，
其中所述第一组测试对象、所述第二组测试对象、所述第三组测试对象和所述第四组测试对象相对于所述基座结构的位置在空间上是固定的，并且
其中所述设备是适于计算机断层摄影系统的校准和准确性验证中的一者或多者的试样。


2.根据权利要求1所述的设备，其中所述基座结构是陶瓷板。


3.根据权利要求1所述的设备，其中所述第一轴线平行于所述第三轴线，所述第二轴线平行于所述第四轴线。


4.根据权利要求1所述的设备，其中所述第一组测试对象和所述第二组测试对象是具有第一半径的球形，并且所述第三组测试对象和所述第四组测试对象是具有与所述第一半径不同的第二半径的球形。


5.根据权利要求4所述的设备，其中所述第一组测试对象、所述第二组测试对象、所述第三组测试对象和所述第四组测试对象包括红宝石和/或陶瓷。


6.根据权利要求4所述的设备，其中所述第一半径的值为5mm，并且所述第二半径的值为2mm。


7.根据权利要求1所述的设备，其中所述基座结构、所述第一组测试对象、所述第二组测试对象、所述第三组测试对象和所述第四组测试对象被配置为从来源接收X射线辐射并修改所述接收的X射线辐射的一部分。


8.根据权利要求1所述的设备，所述设备还包括：
一对测试对象，所述一对测试对象具有所述第一几何形状并且沿第五轴线布置；以及
来自所述第一组测试对象的第一测试对象和沿第六轴线布置的第二测试对象，
其中所述第五轴线和所述第六轴线平行，并且所述第二测试对象具有所述第一几何形状。


9.根据权利要求8所述的设备，其中十一个测试对象具有所述第一几何形状，并且十一个测试对象具有所述第二几何形状。


10.根据权利要求1所述的设备，所述设备还包括：
第七组测试对象，所述第七组测试对象沿第七轴线布置并耦接到所述基座结构；和
第八组测试对象，所述第八组测试对象沿第八轴线布置并耦接到所述基座结构，
其中所述第七组测试对象具有所述第一几何形状，并且所述第八组测试对象具有所述第二几何形状。


11.根据权利要求1所述的设备，其中所述第一几何形状包括所述第一组测试对象的形状，并且所述第二几何形状包括所述第二组测试对象的形状。


12.一种方法，所述方法包括：
将计算机断层摄影试样放置于第一位置处，所述计算机断层摄影试样被配置为接收X射线束并透射修改的射束，所述修改的射束包括所述接收的X射线束的一部分；
将所述计算机断层摄影试样...

【专利技术属性】
技术研发人员：安德烈亚斯·费舍尔，尼尔斯·罗思，亚历山大·苏佩斯，尤金·特拉佩，
申请(专利权)人：威盖特技术美国有限合伙人公司，
类型：发明
国别省市：美国;US