【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于材料的介电不连续性的微波测量的设备描述本专利技术的
本专利技术涉及电磁检测装置的
具体而言，本专利技术涉及一种用于微波测量的设备，尤其适用于控制物体或人体部分的介电均匀性。该设备还允许获得表示所述介电均匀性的图的图像。现有技术在生产活动领域，物体的介电均匀性的控制代表与半成品和成品的质量控制相联系的一个方面。在医学领域，介电均匀性的控制与例如癌症诊断、中风分类和骨骼分析相联系。光学技术的使用是众所周知的，其目的是对待研究其特性的材料进行图像处理。在工业领域中，这些设备针对生产过程的非破坏性控制，其目的是保证成品的高质量，并且在最后的分析中确保满足一个或更多个生产参数，根据该生产参数确定所分析产品的有效适销性。更重要的是这些技术在医学领域中的使用，在医学领域中它们可以用于诊断目的，以这种方式允许发现人体的病理和疾病。因此，清楚的是，利用这些技术的设备的效率是至关重要的(特别是关于所收集的图像的质量)，从而能够以及时且详细的方式诊断对健康有害的任何病理的发作...
【技术保护点】
1.一种用于待检查的材料(M)的介电不连续性的微波测量的设备，所述设备(1)包括波导发射器(2)、波导(4)和接收天线(3)，其中：/n所述发射器(2)被配置为在所述波导中发射微波电磁场，所述微波电磁场适于与待检查的材料(M)相互作用；/n所述接收天线(3)被配置为接收由所述材料(M)反射的电磁场，所述反射的电磁场包含与所述材料(M)的介电不连续性相关的信息；/n所述波导(4)被配置为：/n向所述材料(M)传播发射的电磁场；/n向所述接收天线(3)传送所述反射的电磁场；/n所述波导(4)具有检查座(4a)，所述检查座(4a)被配置用于所述材料(M)的至少一部分的插入，/n其...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180417 IT 102018000004591;20180710 IT 10201800001.一种用于待检查的材料(M)的介电不连续性的微波测量的设备，所述设备(1)包括波导发射器(2)、波导(4)和接收天线(3)，其中：
所述发射器(2)被配置为在所述波导中发射微波电磁场，所述微波电磁场适于与待检查的材料(M)相互作用；
所述接收天线(3)被配置为接收由所述材料(M)反射的电磁场，所述反射的电磁场包含与所述材料(M)的介电不连续性相关的信息；
所述波导(4)被配置为：
向所述材料(M)传播发射的电磁场；
向所述接收天线(3)传送所述反射的电磁场；
所述波导(4)具有检查座(4a)，所述检查座(4a)被配置用于所述材料(M)的至少一部分的插入，
其中，所述发射器(2)或所述接收天线(3)中的至少一个在所述检查座(4a)周围的多个位置中可移动。
2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述检查座(4a)是所述波导(4)的壁中的孔。
3.根据权利要求1或2所述的设备，其中，所述接收天线(3)在围绕所述检查座(4a)的多个位置中旋转可移动。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的设备，其中，所述检查座(4a)布置在所述波导(4)的中心部分中。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的设备，其中，所述波导(4)具有用于所述发射器(2)的插入的外部座(2a)和用于所述接收天线(3)的插入的内部座(3a)，其中所述外部座(2a)布置在所述波导(4)的外围部分，并且其中所述内部座(3a)布置在所述外部座(2a)和所述检查座(4a)之间。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的设备，其中，所述波导(4)具有用于所述接收天线(3)的插入的外部座(2a)和用于所述发射器的插入的内部座(3a)，其中所述外部座(2a)布置在所述波导(4)的外围部分，并且其中所述内部座(3a)布置在所述外部座(2a)和所述检查座(4a)之间。
7.根据权利要求5或6所述的设备，其中，所述内部座(3a)具有围绕所述检查座(4a)的圆周延伸部，并且所述发射器(2)或所述接收天线(3)在所述接收座(3a)内围绕所述检查座(4a)旋转可...
【专利技术属性】
技术研发人员：乔瓦尼·拉斯帕，詹路易吉·蒂贝里，
申请(专利权)人：UBT有限责任公司，
类型：发明
国别省市：意大利;IT
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