用于校准高透反射率测量系统的标准结构及校准方法技术方案

一种用于校准高透反射率测量系统的标准结构，包括二氧化碳气源、真空泵、阀门1、阀门2、腔体和空气压力计，所述的二氧化碳气源通过管道与所述的腔体相连接，所述的管道内安装所述的阀门1，所述的真空泵通过管道与所述的腔体相连接，所述的管道内安装所述的阀门2，所述的空气压力计通过管道与所述的腔体相连接。本发明专利技术标准结构解决了现有高透反射率测量系统无法校准的问题，可实现0.99到0.99999范围内高透反射率的校准。

【技术实现步骤摘要】
用于校准高透反射率测量系统的标准结构及校准方法
本专利技术涉及高透反射率的测量，特别是一种用于校准高透反射率测量系统的标准结构及校准方法。
技术介绍
具有极高透射率和极高反射率(高于99.9％)的光学元件在引力波观测、激光陀螺仪、高功率激光器等领域中有非常广泛的应用，在这些系统中，光学元件的透射率和反射率直接决定到了光学系统的一系列重要参数，因此高透射率和高反射率的准确测量具有重要的意义。目前常见的高透射率和高反射率测量方法主要有光度法和衰荡测量法，这些系统都可以完成高透射率和高反射率的测量。但是由于缺乏标准物质，因此，不能对现有的测量系统进行校准，高透射率和高反射率测量结果的准确性因而不可预知。
技术实现思路
为了解决现有高透射率和高反射率测量系统无法校准的问题，本专利技术提供一种用于校准高透反射率测量系统的标准结构及校准方法，可实现0.99到0.99999范围内高透反射率的校准。本专利技术的技术解决方案如下：一种用于校准高透反射率测量系统的标准结构，其特点在于该标准结构包括二氧化碳气源、真空泵、阀本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于校准高透反射率测量系统的标准结构，其特征在于该标准结构包括腔体(1)、二氧化碳气源(2)、第一阀门(3)、真空泵(4)、第二阀门(5)和空气压力计(6)，所述的二氧化碳气源(2)通过第一管道经第一阀门(3)与所述的腔体(1)相连，所述的真空泵(4)通过第二管道经第二阀门(5)与所述的腔体(1)相连，所述的空气压力计(6)通过第三管道与所述的腔体(1)相连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于校准高透反射率测量系统的标准结构，其特征在于该标准结构包括腔体(1)、二氧化碳气源(2)、第一阀门(3)、真空泵(4)、第二阀门(5)和空气压力计(6)，所述的二氧化碳气源(2)通过第一管道经第一阀门(3)与所述的腔体(1)相连，所述的真空泵(4)通过第二管道经第二阀门(5)与所述的腔体(1)相连，所述的空气压力计(6)通过第三管道与所述的腔体(1)相连接。


2.利用权利要求1所述的标准结构，对高透反射率测量系统的校准方法，其特征在于该方法包括以下步骤：
1)系统安装：在高透反射率测量系统中，安装标准结构的腔体(1)，使激光器输出的激光经所述腔体(1)的入射端口进入所述腔体(1)、经所述腔体(1)的出射端口输出，被参考光探测器和...

【专利技术属性】
技术研发人员：王圣浩，刘世杰，徐学科，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，上海恒益光学精密机械有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31