梯度磁场测量方法和MRI装置制造方法及图纸

技术编号:2637232 阅读:155 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
为了精确地测量梯度磁场,施加预编码脉冲P↓[k],在施加具有要测量的梯度波形的编码脉冲G↓[e]的同时从FID信号中采集数据S(k,1)-S(k,T),以不同的幅值的预编码脉冲P↓[k]重复上述步骤K次;从所采集的数据中得到具有以相位编码差ΔΦ作为角度的数据D(1,1)-D(1,T-1),D(2,1)-D(2,T-1),…,D(K,1)-D(K,T-1);将具有编码脉冲G↓[e]的相应幅值的数据相加得到加法数据d(1)-d(T-1);从加法数据中得到梯度磁场差值ΔG(1)-ΔG(T-1);累计梯度磁场差值得到梯度磁场G(1)-G(T-1)。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种梯度磁场测量方法和MRI(磁共振成像)装置,更具体地说,涉及一种能够精确地测量实际施加的梯度磁场的梯度磁场测量方法和MRI装置。附附图说明图1所示为解释在题为“Novel k-space Trajectory MeasurementTechnique”(Zhang等人的,在Magnetic Resonance in Medicine,39:999-1004(1998)上)的文章中所公开的梯度磁场测量方法中应用的梯度磁场测量脉冲序列的附图。梯度磁场测量脉冲序列J施加激励RF脉冲R和片层选择脉冲Gs,施加复相脉冲Gr,并在施加具有螺旋梯度波形的编码脉冲Ge的同时从FID信号中采集数据S(1)-S(T)。接着,从所采集到的数据S(1)-S(T)中得到具有角度相位差Δφ的数据D(1)-D(T-1)。具体地说进行如下的计算D(t)=S(t)·S(t+1)*这里S(t+1)*表示S(t+1)的共轭复数。然后,从具有角度相位差Δφ的数据D(1)-D(T-1)中得出梯度磁场差ΔG(1)-ΔG(T-1)。具体地说进行如下的计算ΔG(t)=arctan{D(t本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种梯度磁场测量方法,包括如下步骤:当T是从一个FID信号中进行数据采集的次数并且K是等于或大于2的自然数时,施加激励RF脉冲,施加预编码脉冲P↓[k],在施加具有要测量的梯度波形的编码脉冲G↓[e]的同时从FID信号中采集数据S(k,1)-S(k,T),以不同的幅值的所说的预编码脉冲P↓[k]重复这些步骤K次;从所说的所采集的数据S(1,1)-S(1,T),S(2,1)-S(2,T),…,S(K,1)-S(K,T)中获得具有以相位编码差ΔΦ作为角度的数据D(1,1)-D(1,T-1),D(2,1)-D(2,T-1),…,D(K,1)-D(K,T-1);将具有所说的编码脉冲G↓[e]的相应幅值...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:宫本昭荣押尾晃一
申请(专利权)人:通用电器横河医疗系统株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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