一种太赫兹探测器绝对光谱响应校准方法技术

本发明专利技术公开了一种太赫兹探测器绝对光谱响应校准方法，黑体辐射源发出的辐射光经过光阑孔对光斑进行限制，通过太赫兹窄带滤波片轮后将产生单色的太赫兹光，再次经过光阑孔后，单色太赫兹光照射到太赫兹探测器或太赫兹功率计上，太赫兹探测器和太赫兹功率计被固定在位移台上，测量时通过控制器旋转滤波片轮，产生某一单色太赫兹光，照射到太赫兹探测器上，通过数据采集系统采集信号，再经过位移台将太赫兹功率计移动到相同位置处测量得到该波长的辐射功率，通过绝对响应率计算公式计算得到某一波长的绝对响应率，通过控制器旋转滤波片轮将得到整个光谱范围内的绝对光谱响应。本发明专利技术性能稳定、结构紧凑、使用方便，测试准确度高。

【技术实现步骤摘要】
一种太赫兹探测器绝对光谱响应校准方法
本专利技术涉及绝对光谱响应测量领域，尤其涉及的是，一种太赫兹探测器绝对光谱响应校准方法。
技术介绍
目前对于光电探测器绝对光谱响应测量，一般采用相对光谱响应和某一点绝对光谱响应转换得到。其中光电探测器的相对光谱大多采用替代法进行测量，测量原理如图1所示。采用替代法测量得到光电探测器的相对光谱响应以及在某一波长点上绝对定标再转化得到整个波长范围内的绝对光谱响应。由于在太赫兹波段缺乏连续可调谐的太赫兹光源以及单色仪，因此无法采用传统校准探测器绝对光谱响应的方法来实现对太赫兹探测器绝对光谱响应的校准。传统的光电探测器绝对光谱响应校准方法是采用宽光谱光源和单色仪，产生单色光，由于在太赫兹波段缺乏太赫兹波段的单色仪，目前国际上还没有太赫兹波段单色仪，因此也无法采用传统的方法进行测量。
技术实现思路
针对以上太赫兹探测器绝对光谱响应校准存在的问题，本专利技术提供了一种太赫兹探测器绝对光谱响应校准方法，以满足太赫兹探测器绝对光谱响应校准的需求。所要解决的技术问题包括：1、太赫兹探测器绝对光谱响应测量；本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种太赫兹探测器绝对光谱响应校准方法，其特征在于，黑体辐射源发出的辐射光经过第一光阑孔对光斑进行限制，去除额外的杂散光，通过太赫兹窄带滤波片轮后将产生单色的太赫兹光，再次经过第二光阑孔后，单色太赫兹光照射到太赫兹探测器或太赫兹功率计上，太赫兹探测器和太赫兹功率计被固定在位移台上，太赫兹探测器输出信号经过控制器及数据采集系统，由控制器及数据采集系统控制太赫兹窄带滤波片轮转动；测量时通过控制器及数据采集系统旋转太赫兹窄带滤波片轮，产生某一单色太赫兹光，照射到太赫兹探测器上，通过控制器及数据采集系统采集太赫兹探测器的输出电压信号，再经过位移台将太赫兹功率计移动到相同位置处，测量得到某一单色太赫兹...

【技术特征摘要】
1.一种太赫兹探测器绝对光谱响应校准方法，其特征在于，黑体辐射源发出的辐射光经过第一光阑孔对光斑进行限制，去除额外的杂散光，通过太赫兹窄带滤波片轮后将产生单色的太赫兹光，再次经过第二光阑孔后，单色太赫兹光照射到太赫兹探测器或太赫兹功率计上，太赫兹探测器和太赫兹功率计被固定在位移台上，太赫兹探测器输出信号经过控制器及数据采集系统，由控制器及数据采集系统控制太赫兹窄带滤波片轮转动；测量时通过控制器及数据采集系统旋转太赫兹窄带滤波片轮，产生某一单色太赫兹光，照射到太赫兹探测器上，通过控制器及数据采集系统采集太赫兹探测器的输出电压信号，再经过位移台将太赫兹功率计移动到相同位置处，测量得到某一单色太赫兹光波长的辐射功率，通过绝对响应率计算公式(1)计算得到某一单色太赫兹光波长的绝对响应率，通过控制器及数据采集系统旋转太赫兹窄带滤波片轮将得到0.1THz～10THz光谱范围内的绝...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘红元，吴斌，王洪超，杨延召，李京松，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第四十一研究所，
类型：发明
国别省市：山东;37