网络分析仪、网络分析方法和记录媒体技术

一种网络分析仪，包括：原始数据测量部分（１３），用于测量被测器件（２０）的Ｓ参数；测量系统误差因数测量部分（１４），用于获得在测量被测器件（２０）时产生的测量系统误差因数；参数转换因数计算部分（１５），用于获得参数转换因数；扩展误差因数计算部分（１７），用于获得扩展误差因数；以及被测器件计算部分（１８），用于根据Ｓ参数和扩展误差因数获得阻抗。相应地，无需夹具，并且还能预先获得扩展误差因数。因此，能够简化网络分析仪的运作和提高计算速度。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于计算和测量被测器件的电路参数的网络分析仪。对于测量被测器件的各种电路参数(诸如例如任意归一化阻抗的S参数、在添加匹配电路情形下的S参数、以及电路阻抗)，曾经使用了两种方法。第一种方法是这样一种方法，它把夹具与被测器件相连，从而直接测量电路参数。在附图说明图10中示出与夹具相连的被测器件的一种系统结构。在示于图10的第一种方法中，夹具120连至被测器件100，而网络分析仪200把被测器件100连同夹具120一起测量。在此情形中，被测器件100的电路参数随夹具120而变化。因此，为了在给定条件下得到电路参数，要通过制造适合给定条件的夹具120和把该夹具连至被测器件100来实行测量。例如，当希望对于十种条件得到电路参数，则要制造十个夹具120然后通过连接每个夹具至被测器件100而进行总计十次测量。第二种方法将实行如下首先将测量被测器件的原始数据(例如，S参数)。然后，将把测得的原始数据代入所需的电路参数和原始数据之间的关系表示式，由此得到所需的电路参数。将以测量被测器件的阻抗为例来描述第二种方法。首先，把阻抗Z表示为图11中的阻抗Z的数值表示式，这里Ed是主要由于桥路的方向性而产生的误差，Er是主要由于频率跟踪而产生的误差，而Es是主要由于源匹配而产生的误差。当用信号流图来表示图11的数值表示式时，就得到了图12。S11表示要测量的原始数据。通过把它代入图11的数值表示式，能够得到阻抗Z。当难于或原则上不可能制造夹具时，能够有效地使用第二种方法。例如，在图12所示的情形中，如果右侧当中部分能够作为夹具制造，则可以测量阻抗。然而，原则上不可能制造这样一个夹具。因而使用第二种方法以得到阻抗。然而，第一种方法有如下的缺点。首先，制造各种夹具很麻烦，并且重复测量多次也很麻烦。制造具有理想特性的夹具也很困难。此外，当为了相同的目的而制造多个夹具时，难于把它们制造得具有均匀的特性。此外，取决于要测量的电路参数，有原则上不可能制造夹具的一些情形。另一方面，第二种方法能够比较容易地解决上面提到的有关制造夹具的问题。然而，为了计算要用很长的时间，而这延长了统统所需的测量时间。相应地，本专利技术的一个目的是提供一种网络分析仪，由此能够简单地得到被测器件的各种电路参数。按照在权利要求1中描述的本专利技术，用于计算被测器件的电路参数的网络分析仪包括原始数据测量装置，用于测量被测器件的原始数据；测量系统误差因数测量装置，用于得到在测量被测器件时出现的测量系统误差因数；参数转换因数计算装置，用于得到参数转换因数，该参数转换因数指出电路参数和无测量系统误差因数的数据(它由从原始数据中去除测量系统误差因数得到)之间的关系；真实值原始数据计算装置，用于根据原始数据和测量系统误差因数得到无测量系统误差因数的数据；以及被测器件计算装置，用于根据无测量系统误差因数的数据和参数转换因数得到电路参数。这里使用的术语“原始数据”是指由网络分析仪直接测量的数据。原始数据的一个例子是S参数。在测量系统中出现的误差的因数包括可归于桥路的方向性的误差；可归于频率跟踪的误差；以及可归于源匹配的误差。电路参数的一个例子是阻抗。参数转换因数的一个例子是S参数和阻抗之间的关系。按照本专利技术，能够从原始数据、测量系统中的误差因数、以及参数转换因数得到电路参数。因此，当把电路参数连至被测器件时，无需制造任何夹具和以每次改变夹具而重复测量多次就能计算电路参数。因此，能够简单地计算电路参数。在权利要求2中描写的本专利技术是一种按照权利要求1的网络分析仪，其中，测量装置把原始数据作为无测量系统误差因数的数据来处理。在能够忽略测量系统误差因数的情形中，可以把被测器件的原始数据作为无测量系统误差因数的数据来处理。按照在权利要求3中描写的本专利技术，用于计算被测器件的电路参数的网络分析仪包括原始数据测量装置，用于测量被测器件的原始数据；测量系统误差因数测量装置，用于得到在测量被测器件是时出现的测量系统误差因数；参数转换因数计算装置，用于得到参数转换因数，该参数转换因数指出电路参数和无测量系统误差因数的数据之间的关系，而无测量系统误差因数的数据是从原始数据中去除测量系统误差因数得到的；扩展的误差因数计算装置，用于通过组合测量系统误差数据和参数转换因数而得到扩展的误差因数；以及被测器件计算装置，用于根据原始数据和扩展的误差因数得到电路参数。按照本专利技术，能够根据原始数据、测量系统中的误差因数、以及参数转换因数得到电路参数。所以，当把夹具连至被测器件时，无需制造任何夹具和以每次改变夹具而重复多次测量，就能计算出电路参数。因此，能够简单地计算电路参数。此外，通过组合在测量系统中出现的误差因数和参数转换因数，误差因数计算装置能够预先得到扩展误差因数。因此，能够提高计算速度。按照在权利要求4中描述的本专利技术，按照权利要求1至3的任何一项的网络分析仪还包括参数转换因数记录装置，用于记录参数转换因数。权利要求5中描述的本专利技术是按照权利要求1至3的任何一项的网络分析仪，其中，电路参数是阻抗。权利要求6中描述的本专利技术是按照权利要求1至3的任何一项的网络分析仪，其中，电路参数是作为任意归一化阻抗的S参数。权利要求7中描述的本专利技术是按照权利要求1至3的任何一项的网络分析仪，其中，当添加匹配网络时电路参数是S参数。权利要求8中描述的本专利技术是按照权利要求1至3的任何一项的网络分析仪，其中，电路参数是电路导纳。按照权利要求9的本专利技术，一种计算被测器件的电路参数的网络分析方法包括原始数据测量步骤，用于测量被测器件的原始数据；测量系统误差因数测量步骤，用于得到测量系统在测量被测器件时出现的误差因数；参数转换因数计算步骤，用于得到参数转换因数，该参数转换因数指出电路参数和无测量系统误差因数的数据，它是从原始数据去除测量系统误差因数得到的；真实值原始数据计算步骤，用于根据原始数据和测量系统误差因数得到无测量系统误差因数的数据；以及被测器件计算步骤，用于根据无测量系统误差因数的数据和参数转换因数得到电路参数。按照权利要求10描述的本专利技术，一种计算被测器件电路参数的网络分析方法包括原始数据测量步骤，用于测量被测器件的原始数据；测量系统误差因数测量步骤，用于得到测量系统在测量被测器件时出现的误差因数；参数转换因数计算步骤，用于得到参数转换因数，该参数转换因数指出电路参数和无测量系统误差因数的数据，它是从原始数据去除测量系统误差因数得到的；扩展误差因数计算步骤，用于通过组合测量系统误差因数和参数转换因数来得到扩展误差因数；以及被测器件计算步骤，用于根据原始数据和扩展误差因数因数得到电路参数。按照权利要求11描述的本专利技术，一种计算机可读取的媒体包括用于由计算机执行的指令的程序，用于完成计算被测器件的电路参数的网络分析方法，该方法包括原始数据测量步骤，用于测量被测器件的原始数据；测量系统误差因数测量步骤，用于得到测量系统在测量被测器件时出现的误差因数；参数转换因数计算步骤，用于得到参数转换因数，该参数转换因数指出电路参数和无测量系统误差因数的数据，它是从原始数据去除测量系统误差因数得到的；真实值原始数据计算步骤，用于根据原始数据和测量系统误差因数得到无测量系统误差因数的数据；以及被测器件计算步骤，用于根据无测量系统误本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于计算被测器件的电路参数的网络分析仪，其特征在于，包括： 原始数据测量装置，用于测量所述器件的原始数据； 测量系统误差因数测量装置，用于得到在测量所述被测器件时出现的测量系统误差因数； 参数转换因数计算装置，用于得到参数转换因数，所述参数转换因数指出所述电路参数和无测量系统误差因数的数据之间的关系，所述无测量系统误差因数的数据是从所述原始数据去除所述测量系统误差因数得到的； 真实值原始数据计算装置，用于根据所述原始数据和所述测量系统误差因数得到所述无测量系统误差因数的数据；以及 被测器件计算装置，用于根据所述无测量系统误差因数的数据和所述参数转换因数得到所述电路参数。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：中山喜和，荒川则雄，
申请(专利权)人：株式会社爱德万测试，
类型：发明
国别省市：JP[日本]