用于检验多色和轮廓图像的CAM(计算机辅助制造)参考制造技术

本发明专利技术公开了一种电路检验系统，它包括一个用于光学检验一个电路并提供一个指明了多于２个的不同类型区域的检验输出的光学子系统以及一个用于分析该检验输出的分析子系统，其中的分析包括把该检验输出与一个指明了多于２个的不同类型区域的计算机文件参考相比较。还公开了一种检验电路的方法。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术一般地涉及自动光学检验(“AOI”)系统，具体地涉及通过把被检验图案，例如电路图案的图像与一个参考图像相比较来进行检验的AOI系统。本专利技术的背景通过把含图案物品的图像与一个计算机产生的参考图像进行比较来自动地检验和分析图像的设备和方法在本
是众知的。作为一个例子，通常可以购买到能自动用光学方法检验印刷电路板的系统，其中的检验是通过把被检印刷电路板的图像与一个由一个计算机辅助制造(CAM)文件产生的图像相比较来实现的。这种系统的一种典型结构包括Xpert 1700TM计算机辅助制造系统、CDR 300TM和Ref-Manager 300TM软件、以及Inspire 9000TMAOI系统，所有这些都可以从以色列Yavne市的Orbotech Ltd.(公司名)购得。典型地，由普通AOI系统检验的图象是由淀积在一个非导电基底上的一些铜导线形成的。由于这种被检图案在本质上是二值的，所以只需考虑铜导线和基底这两种可光学识别的分布。这里列出下述两个待审批专利申请作为参考，这两个申请的权益接受人与本申请的相同，它们都描述了适用于自动光学检验诸如电路这样的含图案物品的设备本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路检验系统，它包括：一个光学子系统，用于光学检验一个电路并提供指明了多于２个的不同类型区域的检验输出；以及一个分析子系统，用于分析上述检验输出，其中上述分析包括把上述检验输出与一个指明了多于２个的不同类型区域的计算机文件参考相 比较。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：泽夫古特曼，塔利古拉特伯恩斯坦，
申请(专利权)人：奥博泰克有限公司，
类型：发明
国别省市：IL[以色列]