用于表征电路板测试覆盖率的方法和设备技术

一种表征电路板测试覆盖率的方法，包括： ａ）列举电路板潜在的缺陷性质，而不考虑潜在的缺陷性质可能如何被测试； ｂ）对所列举的每一个潜在的缺陷性质，产生一个性质分数，该性质分数指示测试组合是否对潜在的缺陷性质进行测试；和 ｃ）根据加权结构组合性质分数，以表征测试组合的电路板测试覆盖率。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术一般地涉及用于表征电路板测试覆盖率的方法和设备。经过最近十年，电路板已经向受限制访问的方向演变了。事实上，可以预料的是，可访问的节点少于20％的电路板将很快变得普遍起来。一些引发访问限制的因素包括●逐渐增加的电路板密度(器件/平方厘米逐渐增加)●电路板版图中精细的线路和空间几何结构(即，更小的探测目标)●间距密度逐渐增加的栅状阵列器件●需要精确版图而不提供探测目标的高频信号 ●比任何测试设备上可以使用的最大数目大几倍的电路板节点计数上述变化已经使得对电路板测试覆盖率“旧”模型的应用至少变得困难了，并且在很多情形下没有意义。电路板测试覆盖率“旧”模型的有用性也受到新的以及完全不同的测试方法(例如，自动光学检测(AOI，Automated Optical Inspection)和自动X射线检测(AXI，Automated X-ray Inspection))的出现的影响。很多新的测试方法非常擅长于对特定缺陷的测试，但是却在它们所能测试的缺陷数目方面受到限制。因此，越来越常见的是，认为进行了有效测试的器件是被充分测试的器件的假设变得错误了。结果是，电路板常常进行不同的测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：肯尼思·P·帕克，凯瑟琳·J·赫德，埃里克·A·拉莫斯，
申请(专利权)人：安捷伦科技有限公司，
类型：发明
国别省市：