一种传输线特性阻抗的测试方法技术

本发明专利技术公开了一种传输线特性阻抗的测量方法，将传输线终端连接匹配负载Ｚ↓［Ｌ］，测量传输线长度Ｌ，用网络分析仪前向端口测量传输线起点的输入阻抗Ｚ↓［ｉｎ］，根据传输线理论求解传输线特性阻抗Ｚ。或者，将传输线等效为双端网络，将传输线的起点和终端分别连接网络分析仪的前向端口和反向端口，测量传输线的Ｓ参数，根据传输线理论和测得的Ｓ参数求解传输线特性阻抗。通过本发明专利技术所提供的方法，可获得传输线特性阻抗的实部与虚部，得到传输线的传输特性与损耗特性，提高了传输线特性阻抗的测量的准确度。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于高频电子通信线路领域，涉及一种传输线特性阻抗测试方法，特别是指一种通过测量传输线的S参数得到传输线的特性阻抗的实现方法。
技术介绍
高频电路必须考虑信号传输的匹配问题。频率高到一定程度的电波具有光传播的波动性，在传输的过程中会存在象光传播一样的反射、折射。信号传输的反射、折射对电子线路的工作影响非常大，在通信电子线路中会导致信号的失真，产生杂散、谐波，降低通信接收灵敏度，甚至破坏器件的正常工作。电波传输的反射与折射是由于传输线的不连续性造成的，即传输线特性阻抗与负载阻抗不匹配造成的，因此传输线与负载的匹配在高频电子电路设计中非常重要。传输线的特性阻抗是描述传输线传播电波的特性参数，在印刷电路板(PCB)加工过程中，制作的传输线特性阻抗是否满足设计要求，需要经过测试与验证。目前，传输线特性阻抗的测试通常采用时域反射(TDR)的方法来进行测量，该方法是通过示波器发射一个方波或阶跃激励，测量传输线的反射参数。由于这种方法采用时域测量法，因此通常在频率较低如1GHz以下，信号传输线无损耗的情况下适用，在频率较高的情况下，测量误差较大，并且无法测量传输线的损耗特性，即只能测量本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种传输线特性阻抗的测试方法，其特征在于，将传输线等效为双端网络，将传输线的起点和终端分别连接网络分析仪的前向端口和反向端口，测量传输线的Ｓ参数，按照式：Ｓ１１＝ｊ（Ｚ／Ｚ↓［０］－Ｚ↓［０］／Ｚ）Ｓｉｎθ／［２Ｃｏｓθ＋ｊ（Ｚ／Ｚ↓［０］＋Ｚ↓［０］／Ｚ）Ｓｉｎθ］和Ｓ２１＝２Ｚ＊Ｚ↓［０］／［２Ｚ＊Ｚ↓［０］＊Ｃｏｓθ＋ｊ（Ｚ＊Ｚ＋Ｚ↓［０］＊Ｚ↓［０］）Ｓｉｎθ］求解传输线特性阻抗Ｚ以及传输线电长度θ，其中，Ｚ↓［０］为已知的测试系统传输线特性阻抗。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：单文英，杨学贤，张福良，杨胤嗣，杨金妹，朱灴，刘琦，
申请(专利权)人：联想北京有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]