测试探针制造技术

一种测试探针，包括一第一套筒、一第一弹性件、一第一活动杆、一第二弹性件、以及至少一第二活动杆。第一套筒具有一第一容纳部；第一弹性件设置于第一容纳部内；第一活动杆部分位于第一容纳部内，并具有一第一挡部及一第二容纳部，第一挡部设置于第一容纳部内并与第一弹性件相接触，以使得第一活动杆相对于第一容纳部为可滑动；第二弹性件设置于第二容纳部内；第二活动杆部份位于第二容纳部内，并具有一第二挡部，第二挡部设置于第二容纳部内并与第二弹性件相接触，以使得第二活动杆相对于第二容纳部为可滑动。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术关于一种测试探针，特别关于一种用以测试电解电容(electrolytic capacitor)的测试探针。
技术介绍
电子产品通常是由许多小型电子零件所组合而成，其中电解电容(electrolytic capacitor)便是一种常见的小型电子零件。而当电子产品组装完成时，通常必须经过一连串的测试，例如电性测试、功能测试等，以电解电容的测试为例，其通常必须测试所组装的电解电容是否有规格错误、极性相反、及缺少元件等问题。请参照图1所示，其显示一电路板11、设置于电路板11上的一电解电容13、以及一测试器具20。其中，测试器具20包括一机体21以及一测试探针23；在现有技术中，测试探针23为一不可压缩的针体，因此当利用已有的测试探针23进行电解电容13的测试时，常常会由于施力不当而造成测试探针23的断裂或弯曲，结果会影响测试结果的正确性，并且会降低测试器具20的寿命。承上所述，为解决现有技术的测试探针容易断裂或弯曲的问题，熟悉该项技术者揭示一种如图2所示的测试探针30，其包括一套筒31、一弹簧33以及一活动杆35；其中，套筒31具有一容置部311以及至少一缩口313，而弹簧本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试探针，包含：一第一套筒，其具有一第一容纳部；一第一弹性件，其设置于该第一容纳部内；一第一活动杆，其至少一部份位于该第一容纳部内，并具有一第一挡部及一第二容纳部，该第一挡部设置于该第一套筒的该第一容纳部内，并与 该第一弹性件相接触，该第一活动杆相对于该第一容纳部滑动；一第二弹性件，其设置于该第二容纳部内；以及至少一第二活动杆，其至少一部份位于该第二容纳部内，并具有一第二挡部，该第二挡部设置于该第一活动杆的该第二容纳部内，并与该第二弹 性件相接触，该第二活动杆相对于该第二容纳部滑动。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李中山，丁旭林，
申请(专利权)人：华硕电脑股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]