一种SD卡控制器功能验证方法、装置及相关组件制造方法及图纸

本申请公开了一种SD卡控制器功能验证方法，包括：定义错误状态标签，错误状态标签用于标识SD卡标准协议中规定的错误类型；获取当前测试错误类型，根据当前测试错误类型对错误状态标签进行置位；通过SD卡模型根据错误状态标签的置位值选择对应的行为描述与SD卡控制器交互，并获取SD卡控制器功能验证结果。本申请能够覆盖正确和错误时的功能验证，可有效提高SD卡控制器功能验证的灵活性、功能验证的覆盖率和验证效率。本申请还公开了一种SD卡控制器功能验证装置、电子设备及计算机可读存储介质，具有以上有益效果。

An SD card controller function verification method, device and related components

【技术实现步骤摘要】
一种SD卡控制器功能验证方法、装置及相关组件
本申请涉及SD卡领域，特别涉及一种SD卡控制器功能验证方法、装置及相关组件。
技术介绍
SD卡具有高存储容量、内置加密技术、高速数据传输、体积小巧、便携及可热插拔等优点，伴随国内ASIC设计技术的发展，许多芯片设计中集成了SD卡控制器，用于支持SD卡作为数据扩展存储工具。SD卡的仿真验证平台需要Testbench、SD卡控制器及SD卡模型，目前，SD卡模型在描述与SD卡控制器的功能交互时，一些正确功能描述被有效验证，但是，SD卡模型针对某些错误功能的描述，由于设计局限可能未能有效描述或者该错误描述需要每次修改模型代码才能达到描述该错误行为的目的，从而使得SD卡控制器不能高效验证SD卡控制器对于SD卡的错误反馈和相应处理是否正确。因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域技术人员目前需要解决的问题。
技术实现思路
本申请的目的是提供一种SD卡控制器功能验证方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，能够覆盖正确和错误时的功能验证，可有效提高SD卡控制器功能验证的灵活性、功能验证的覆盖率和验证效率。为解决上述技术问题，本申请提供了一种SD卡控制器功能验证方法，包括：定义错误状态标签，所述错误状态标签用于标识SD卡标准协议中规定的错误类型；获取当前测试错误类型，根据当前测试错误类型对所述错误状态标签进行置位；通过SD卡模型根据所述错误状态标签的置位值选择对应的行为描述与SD卡控制器交互，并获取SD卡控制器功能验证结果。优选的，所述定义错误状态标签的过程包括：根据SD卡物理层的错误类型定义错误状态标签。优选的，该SD卡控制器功能验证方法还包括：在所述SD卡模型设置与Testbench交互的错误状态接口；相应的，所述获取当前测试错误类型的过程具体包括：通过解析所述错误状态接口获取当前测试错误类型。优选的，所述错误状态接口位宽为32。优选的，所述根据当前测试错误类型对所述错误状态标签进行置位的过程具体包括：根据所述错误状态接口每位的值，对对应的错误状态标签进行置位，所述置位包括置0或置1。优选的，所述通过SD卡模型根据所述错误状态标签的置位值选择对应的行为描述与SD卡控制器交互的过程具体包括：当所述错误状态标签的置位值为0时，选择该错误状态标签对应的正确行为描述与所述SD卡控制器交互；当所述错误状态标签的置位值为1时，选择该错误状态标签对应的错误行为描述与所述SD卡控制器交互。优选的，所述获取当前测试错误类型的过程具体包括：在每一时钟上升沿获取当前测试错误类型。为解决上述技术问题，本申请还提供了一种SD卡错误验证装置，包括：定义模块，用于定义错误状态标签，所述错误状态标签用于标识SD卡标准协议中规定的错误类型；获取模块，用于获取当前测试错误类型，根据当前测试错误类型对所述错误状态标签进行置位；验证模块，用于通过SD卡模型根据所述错误状态标签的置位值选择对应的行为描述与SD卡控制器交互，并获取SD卡控制器功能验证结果。为解决上述技术问题，本申请还提供了一种电子设备，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上文任意一项所述的SD卡控制器功能验证方法的步骤。为解决上述技术问题，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上文任意一项所述的SD卡控制器功能验证方法的步骤。本申请提供了一种SD卡控制器功能验证方法，首先根据SD卡标准协议中规定的所有错误类型定义错误状态标签，当获取到当前测试错误类型后，对错误状态标签进行置位，SD卡模型的行为描述包括错误行为描述和正确行为描述，SD卡模型通过区分错误状态标签即可选择合适的行为描述与SD卡控制器进行交互，将行为描述反馈至SD卡控制器，覆盖正确和错误时的功能验证，可有效提高SD卡控制器功能验证的灵活性、功能验证的覆盖率和验证效率。本申请还提供了一种SD卡控制器功能验证装置、电子设备及计算机可读存储介质，具有和上述SD卡控制器功能验证方法相同的有益效果。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本申请所提供的一种SD卡控制器功能验证方法的步骤流程图；图2为本申请所提供的一种SD卡控制器功能验证装置的结构示意图。具体实施方式本申请的核心是提供一种SD卡控制器功能验证方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，能够覆盖正确和错误时的功能验证，可有效提高SD卡控制器功能验证的灵活性、功能验证的覆盖率和验证效率。为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。为便于理解本申请所提供的一种SD卡控制器功能验证方法，下面对本申请SD卡控制器功能验证方法所适用的功能验证系统进行说明，该功能验证系统包括Testbench、SD卡模型及SD卡控制器。其中，Testbench根据当前测试目的和命令决定当前测试是否需要执行错误功能描述，需要执行哪一类错误功能描述。请参照图1，图1为本申请所提供的一种SD卡控制器功能验证方法的步骤流程图，该SD卡控制器功能验证方法包括：S101：定义错误状态标签，错误状态标签用于标识SD卡标准协议中规定的错误类型；具体的，在SD卡模型中增加错误状态标签，用于标识错误状态，该错误状态标签描述了SD卡标准协议中规定的所有错误类型，可快速根据SD卡物理层协议版本进行重定义。可以理解的是，通过错误状态标签可以快速确定用于与SD卡控制器交互的行为描述，提高功能验证效率。具体的，预先整理SD卡物理层可能出现的所有错误类型，并将其分别定义为对应的错误状态标签，每一错误状态标签位宽为1。其值含义如下：0代表该错误状态标签无效，SD卡模型执行该错误状态标签对应的正确行为描述；1代表该错误状态标签有效，SD卡模型执行该错误状态标签对应的错误行为描述。具体的，对一些错误状态标签定义如下：regcmd_res_end_bit_err；//定义命令返回信息的截止位数据错误标签regrd_dat_end_bit_err；//定义读数据的截止位数据错误标签regrd_dat_crc_err；//定义读数据CRC错误标签regrd_dat_timeout_er本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种SD卡控制器功能验证方法，其特征在于，包括：/n定义错误状态标签，所述错误状态标签用于标识SD卡标准协议中规定的错误类型；/n获取当前测试错误类型，根据当前测试错误类型对所述错误状态标签进行置位；/n通过SD卡模型根据所述错误状态标签的置位值选择对应的行为描述与SD卡控制器交互，并获取SD卡控制器功能验证结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种SD卡控制器功能验证方法，其特征在于，包括：
定义错误状态标签，所述错误状态标签用于标识SD卡标准协议中规定的错误类型；
获取当前测试错误类型，根据当前测试错误类型对所述错误状态标签进行置位；
通过SD卡模型根据所述错误状态标签的置位值选择对应的行为描述与SD卡控制器交互，并获取SD卡控制器功能验证结果。


2.根据权利要求1所述的SD卡控制器功能验证方法，其特征在于，所述定义错误状态标签的过程包括：
根据SD卡物理层的错误类型定义错误状态标签。


3.根据权利要求1所述的SD卡控制器功能验证方法，其特征在于，该SD卡控制器功能验证方法还包括：
在所述SD卡模型设置与Testbench交互的错误状态接口；
相应的，所述获取当前测试错误类型的过程具体包括：
通过解析所述错误状态接口获取当前测试错误类型。


4.根据权利要求3所述的SD卡控制器功能验证方法，其特征在于，所述错误状态接口位宽为32。


5.根据权利要求3所述的SD卡控制器功能验证方法，其特征在于，所述根据当前测试错误类型对所述错误状态标签进行置位的过程具体包括：
根据所述错误状态接口每位的值，对对应的错误状态标签进行置位，所述置位包括置0或置1。


6.根据权利要求5所述的SD卡控制器功能验证方法，其特征在于，所述通过SD...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾学强，李志，满宏涛，李正，丁微微，熊子涵，
申请(专利权)人：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37