一种支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种支持EDSFF‑1C标准的接口的测试装置，属于检测装置领域，用于替换EDSFF‑1C标准SSD来对EDSFF‑1C接口检测，具体包括壳体，所述壳体的一端设置有主板，所述主板上连接有1C金手指；所述主板电性连接连接器，所述连接器电性连接支持PCIE传输的储存装置，所述1C金手指电性连接所述连接器；所述主板上设置有可调负载，所述可调负载连接1C金手指的12V电源引脚。通过所述连接器实现将3.3V的价格低廉的储存装置与所述1C金手指电性连接，在1C金手指的12V引脚连接可调负载。调节可调负载的功耗，以配合功耗较低的所述储存装置，实现对功耗相对较高的EDSFF‑1C标准的SSD进行模拟。本发明专利技术公开一种支持EDSFF‑1C标准的接口的测试装置能更好地检测EDSFF‑1C接口且成本更低。

【技术实现步骤摘要】
一种支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置
本专利技术涉及检测设备领域，尤其涉及一种支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置。
技术介绍
目前市面上搭载EDSFF规格储存装置的服务器越来越多，服务器连接EDSFF规格储存装置的接口需要经过严格的测试，保证服务器的质量。由于EDSFF规格的储存装置价格普遍较高，因此不可能通过直接在服务器接口插接EDSFF储存装置来检测服务器接口。现有技术中，一般的检测方案仅仅针对接口的信号来进行质量验证，一般的，在一个治具上上设置很多能够连接到服务器接口的示波器接头，服务器系统芯片发送信号到接口，通过示波器显示记录服务器的接口信号，设置不同的验证环境来进行测试，然后将信号记录与接口协会的规范进行对比，确认是否能够满足规范的要求；然而对于产品来说，仅仅测量接口信号是否满足规范是远远不够的，还需要对电源供给以及生热情况进行验证，单单通过示波器验证信号的方式无法完成上述验证，无法完全确保产品的质量。
技术实现思路
本专利技术提供支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置，旨在解决测量本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置，其特征在于，包括壳体(1)，其中，/n所述壳体(1)的一端设置有主板(2)，所述主板(2)上连接有1C金手指(3)；/n所述主板(2)电性连接连接器(4)，所述连接器(4)电性连接支持PCIE传输的储存装置(5)，所述1C金手指(3)电性连接所述连接器(4)；/n所述主板(2)上设置有可调负载(6)，所述可调负载(6)连接1C金手指(3)的12V电源引脚。/n

【技术特征摘要】
1.一种支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置，其特征在于，包括壳体(1)，其中，
所述壳体(1)的一端设置有主板(2)，所述主板(2)上连接有1C金手指(3)；
所述主板(2)电性连接连接器(4)，所述连接器(4)电性连接支持PCIE传输的储存装置(5)，所述1C金手指(3)电性连接所述连接器(4)；
所述主板(2)上设置有可调负载(6)，所述可调负载(6)连接1C金手指(3)的12V电源引脚。


2.根据权利要求1所述的支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置，其特征在于，所述壳体(1)的厚度不超过5.9mm，所述壳体(1)的宽度不超过31.5mm，对准所述储存装置(5)的所述壳体(1)顶面和底面镂空，所述壳体(1)上设置有固定柱(11)，所述固定柱(11)设置于所述储存装置(5)远离所述连接器的一端，所述固定柱(11)抵触所述储存装置(5)，所述主板(2)的底侧到所述壳体(1)的距离为2.1mm。


3.根据权利要求2所述的支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置，其特征在于，所述壳体(1)底面的内部设置滑轨(13)，所述滑轨(13)上滑动连接设置所述固定柱(11)，所述固定柱(11)上贯穿螺接有紧固螺栓(12)，所述紧固螺栓(12)的底部抵触所述滑轨(13)，所述滑轨(13)的一端距离所述连接器(4)距离为30mm，所述滑轨的另一端距离所述连接器(4)的距离为90mm。


4.根据权利要求1所述的支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置，其特征在于，所述储存装置(5)插头支持PCIE传输带宽为×4的传输；所述连接器(4)上水平设置有卡槽，所述卡槽支持PCIE带...

【专利技术属性】
技术研发人员：王星又，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32