用于绝缘子非接触测量的回转装置制造方法及图纸

本申请提供一种用于绝缘子非接触测量的回转装置，属于绝缘子检测领域。回转装置包括：基座；第一立柱和第二立柱，两个立柱基本垂直设置于基座上，第一立柱与第二立柱平行；支撑平台，其可滑动设于两个立柱上，支撑平台上的两个立柱的中点位置开设有一通孔；转动机构，其设于基座上，且位于两个立柱的中间位置，转动机构的上端可转动设于支撑平台的通孔中，转动机构的上端面可用于设置待测绝缘子，并可用于提供待测绝缘子转动的驱动力；顶尖机构，其可滑动设置于第一立柱或第二立柱上，顶尖机构设有可用于顶紧待测绝缘子上端面的顶尖部。对待测绝缘子起到平稳的支撑作用，能够对不同规格的绝缘子进行检测，保证了待测绝缘子转动的稳定性和可靠性。

【技术实现步骤摘要】
用于绝缘子非接触测量的回转装置
本专利技术属于绝缘子检测领域，具体涉及一种用于绝缘子非接触测量的回转装置。
技术介绍
绝缘子检测需要有效手段对产品进行抽样检测，产品检测包括接触式测量和非接触测量两种方式，后一种方式采用基于图像识别的方式实现了工件的无损测量，检测效率高，自动化程度高。在机器视觉检测方面，被测工件需要以一定速率转动，从而实现工件多个位置的准确测量。现有技术中，由于不同规格绝缘子对转台压力不同，绝缘子重力作用，存在摩擦力较大，需要较大的旋转力驱动，且导致无法同一绝缘子非接触测量装置检测不同规格的缺陷，现有技术中还存在平稳性差导致的精度差的缺陷，无法获得精确的测量结果。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种用于绝缘子非接触测量的回转装置，以解决现有技术中存在的一个测量装置无法对多种不同规格的绝缘子进行测量，通用性较低，以及转动平稳性较差，测量精度低等技术问题。本申请提供一种用于绝缘子非接触测量的回转装置，包括：基座；第一立柱和第二立柱，两个所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于绝缘子非接触测量的回转装置，其特征在于，包括：/n基座；/n第一立柱和第二立柱，两个所述立柱基本垂直设置于所述基座上，所述第一立柱与所述第二立柱平行；/n支撑平台，其可滑动设于两个所述立柱上，所述支撑平台上的两个所述立柱的中点位置开设有一通孔；/n转动机构，其设于所述基座上，且位于两个所述立柱的中间位置，所述转动机构的上端可转动设于所述支撑平台的通孔中，所述转动机构的上端面可用于设置待测绝缘子，并可用于提供待测绝缘子转动的驱动力；/n顶尖机构，其可滑动设置于所述第一立柱或所述第二立柱上，所述顶尖机构设有可用于顶紧所述待测绝缘子上端面的顶尖部。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于绝缘子非接触测量的回转装置，其特征在于，包括：
基座；
第一立柱和第二立柱，两个所述立柱基本垂直设置于所述基座上，所述第一立柱与所述第二立柱平行；
支撑平台，其可滑动设于两个所述立柱上，所述支撑平台上的两个所述立柱的中点位置开设有一通孔；
转动机构，其设于所述基座上，且位于两个所述立柱的中间位置，所述转动机构的上端可转动设于所述支撑平台的通孔中，所述转动机构的上端面可用于设置待测绝缘子，并可用于提供待测绝缘子转动的驱动力；
顶尖机构，其可滑动设置于所述第一立柱或所述第二立柱上，所述顶尖机构设有可用于顶紧所述待测绝缘子上端面的顶尖部。


2.根据权利要求1所述的用于绝缘子非接触测量的回转装置，其特征在于，两个所述立柱均经一轴座可拆卸连接于所述基座上。


3.根据权利要求1所述的用于绝缘子非接触测量的回转装置，其特征在于，两个所述立柱上分别套设有一弹性件，各所述弹性件的两端分别顶触所述基座和所述支撑平台。


4.根据权利要求1所述的用于绝缘子非接触测量的回转装置，其特征在于，所述弹性件为弹簧。


5.根据权利要求1所述的用于绝缘子非接触测量的回转装置，其特征在于，所述支撑平台的通孔中设置有同轴的回转轴承，所述回转...

【专利技术属性】
技术研发人员：张锐，武文华，袁金灿，姜璐璐，付超，曹晶，刘翔，汪英英，袁田，张勤，王昱晴，张虎，杨磊，唐芳，张秋芬，蔡勇，江山，郭靖，徐偲达，李佳宣，李依琳，李思行，
申请(专利权)人：中国电力科学研究院有限公司，国家电网有限公司，国网物资有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11