压力传感器的测试方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种压力传感器的测试方法、装置以及存储介质，压力传感器的测试方法包括：在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试，第一预设压力值大于常压；获取压力冲击测试后待测压力传感器的第一性能参数；若第一性能参数满足第一预设条件，则在常温以及第二预设压力值的环境下对待测压力传感器进行压力测试，以确定待测压力传感器的性能信息，第二预设压力值小于常压。本发明专利技术压力传感器的复测过程包括高压以及低压复测，提高复测的准确度。

Test method, device and storage medium of pressure sensor

【技术实现步骤摘要】
压力传感器的测试方法、装置及存储介质
本专利技术涉及通信领域，尤其涉及一种压力传感器的测试方法、装置及存储介质。
技术介绍
随着科技的进步，防水气压传感器产品在智能穿戴方面得到了广泛应用，为了保证产品性能，在对压力传感器进行压力测试后，对传感器进行性能的复测，在复测时往往对压力传感器进行压力冲击测试，该测试方式仅能对高压下的性能进行复测，复测结果不够准确。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种压力传感器的测试方法、装置及存储介质，旨在提高压力传感器复测的准确度。为实现上述目的，本专利技术提供一种压力传感器的测试方法，所述压力传感器的测试方法包括：在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试，所述第一预设压力值大于常压；获取压力冲击测试后所述待测压力传感器的第一性能参数；若所述第一性能参数满足第一预设条件，则在常温以及第二预设压力值的环境下对所述待测压力传感器进行压力测试，以确定所述待测压力传感器的性能信息，所述第二预设压力值小于常压。可选地，所述在常温以及第二本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种压力传感器的测试方法，其特征在于，所述压力传感器的测试方法包括：/n在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试，所述第一预设压力值大于常压；/n获取压力冲击测试后所述待测压力传感器的第一性能参数；/n若所述第一性能参数满足第一预设条件，则在常温以及第二预设压力值的环境下对所述待测压力传感器进行压力测试，以确定所述待测压力传感器的性能信息，所述第二预设压力值小于常压。/n

【技术特征摘要】
1.一种压力传感器的测试方法，其特征在于，所述压力传感器的测试方法包括：
在常温下向待测压力传感器施加第一预设压力值以进行压力冲击测试，所述第一预设压力值大于常压；
获取压力冲击测试后所述待测压力传感器的第一性能参数；
若所述第一性能参数满足第一预设条件，则在常温以及第二预设压力值的环境下对所述待测压力传感器进行压力测试，以确定所述待测压力传感器的性能信息，所述第二预设压力值小于常压。


2.如权利要求1所述的压力传感器的测试方法，其特征在于，所述在常温以及第二预设压力值的环境下对所述待测压力传感器进行压力测试，以得到测试结果的步骤包括：
在常温下将所述待测压力传感器所在环境的压力值在第一预设时长内降至所述第二压力值；
维持所述第二压力值第二预设时长后，将所述待测压力传感器所在环境的压力值在第三预设时长内升至常压；
获取所述待测压力传感器在常温下检测到的第二性能参数；
获取所述第二性能参数与标准性能参数的差值；
根据所述差值确定所述待测压力传感器的性能信息。


3.如权利要求2所述的压力传感器的测试方法，其特征在于，所述根据所述差值确定所述待测压力传感器的性能信息的步骤包括：
在所述差值处于预设范围内时，确定所述待测压力传感器的性能正常；
在所述差值处于预设范围外时，确定所述待测压力传感器的性能异常。


4.如权利要求2所述的压力传感器的测试方法，其特征在于，所述第二性能参数为所述待测压力传感器检测到的压力值以及温度值。


5.如权利要求1-3任一项所述的压力传感器的测试方法，其特征在于，所述第二预设压力值为30kpa，所述第一预设压力值为5ATM。


6.如权利要求1所述的压力传感...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜琳琳，孙振国，冀志猛，
申请(专利权)人：荣成歌尔电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37