【技术实现步骤摘要】
一种巨四方相PbTiO3薄膜的制备方法
本专利技术属于材料制备
,尤其涉及一种巨四方相PbTiO3薄膜的制备方法。
技术介绍
随着信息技术的快速发展,对相关的微电子元器件提出了更苛刻的要求,包括集成化、小型化、多功能和低功耗等,而存储器件是其中最核心和最关键的技术之一,因此,对相关的多功能薄膜材料的开发成为了研究的热点。具有ABO3型钙钛矿结构的钛酸铅(PbTiO3)材料,由于其具有较高的居里温度、大的自发极化强度和独特的负热膨胀性,表现出优异的压电、铁电和热释电等性能而被广泛关注,在非易失性存储、高频率通信和传感器等领域具有很好的应用前景。大量研究表明,铁电材料的性能与材料晶体质量和晶体结构中的轴比(c/a)值密切相关,因为在c/a值大的巨四方相晶体结构中,由于存在大的偶极矩,使得它不仅表现出大的铁电极化性能还具有高的居里温度,这为电子器件的设计和应用提供可靠的价值。目前,具有巨四方相的铁电材料还比较少,并且一般需要通过特殊的条件来获得,比如通过昂贵的高温高压设备、特定的衬底应力作用或元素掺杂等方式。然而高压 ...
【技术保护点】
1.一种巨四方相PbTiO
【技术特征摘要】
1.一种巨四方相PbTiO3薄膜的制备方法,其特征在于,利用脉冲激光沉积系统,在单晶衬底上先制备一层La0.7Sr0.3MnO3缓冲层,再生长PbTiO3薄膜,在动态氧气氛围中沉积后冷却到室温,得到稳定的高质量巨四方相PbTiO3薄膜。
2.如权利要求1所述的一种巨四方相PbTiO3薄膜的制备方法,其特征在于,所述单晶衬底沿c轴方向;所述单晶衬底与PbTiO3靶材的晶格失配度在-2%到-0.5%之间。
3.如权利要求1所述的一种巨四方相PbTiO3薄膜的制备方法,其特征在于,所述La0.7Sr0.3MnO3缓冲层的厚度为5.0~40.0nm。
4.如权利要求1所述的一种巨四方相PbTiO3薄膜的制备方法,其特征在于,所述PbTiO3薄膜的厚度为10.0~100.0nm。
5.如权利要求1所述的...
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