【技术实现步骤摘要】
本专利技术关于导电接触检测装置，它采用由压缩螺旋弹簧弹性推动的导电探针构件来测试印刷电路板、半导体装置和半导体极板。
技术介绍
按照传统的已知的采用接触探头电测印刷电路板和半导体产品导电图案的导电接触检测装置，每个导电探针构件接纳在一管状把手中，它可轴向地滑进、滑出把手，并由一压缩螺旋弹簧推动从把手凸出，并设计成防止导电探针构件完全从把手中凸出。在这样的导电接触检测装置中，导电探针构件的前端与将测试的物体啮合，从而使电信号在将测试的物体和外部电路(如测试电路)之间传输。然而，在试验期间，在电流从将测试的物体通过导电探针构件传导而通过压缩螺旋弹簧时，电信号会遇到与压缩螺旋弹簧的圈数的平方成比例的电感。因此，当通过这种触点控制装置传导的电信号是高频信号(如数+MHz～数GHz)时，高频信号沿压缩螺旋弹簧的螺旋通路传导，导致电感和电阻增大，就会使探测信号的电性能不可靠。专利技术的公开鉴于先有技术的上述问题，本专利技术的主要目的在于提供一种导电接触检测装置，它能可靠地使用，并能检测高频信号。本专利技术的第二个目的在于提供一种导电接触检测装置，它的电感和电阻均较低。本专...
【技术保护点】
一种接触检测装置，包括：一个穿过支承构件的支承孔；一个可滑动地接纳在上述支承孔中的导电探针构件，上述探针构件包括从上述支承孔一端凸出的头部，从而能接触待检测的物体，一个杆部从上述头部与该头部同轴延伸、并离开从上述支承孔凸出的上述头部一端，使上述杆部向支承孔内延伸；和一个压缩螺旋弹簧同轴地接纳在具有上述导电探针构件的上述头部的上述支承孔内，从而将上述头部推出支承孔；上述压缩螺旋弹簧是导电的，这样通过上述导电探针构件的电信号通过上述压缩螺旋弹簧传到信号接收装置，上述压缩螺旋弹簧包括紧密缠绕部分；上述导电探针构件的上述杆部的外径小于上述压缩螺旋弹簧的内径，上述杆部在上述压缩螺旋弹...
【技术特征摘要】
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