多通道导通性测试平台制造技术

本实用新型专利技术提供了一种多通道导通性测试平台，包括：机架，机架内部设置有控制单元、继电器组和万用表，继电器组和万用表分别与控制单元相连接；测试组件，设置于机架上，测试组件进一步包括：升降平台，具有可上下活动的平台以及位于平台上的复数个测试针；夹具，设置于升降平台一侧，并具有位于升降平台上方的夹头。

【技术实现步骤摘要】
多通道导通性测试平台
本技术涉及仪表测试领域，尤其涉及一种适用于温度仪表产品测试的多通道导通性测试平台。
技术介绍
在某些选型的温度仪表产品的生产过程中，需要对它的导通性进行测试。要求只有在所有通路电阻都小于定义值的情况下，产品才是合格的。现有技术的操作步骤是这样的：操作人员使用万用表上的测试笔触碰产品上的一对端子，三次读数并且记录在高精万用表上显示的值，计算平均值然后判断它是否超过限值。重复这个步骤，直到确认所有通路的电阻是否满足要求，最后判断被测产品是否合格。从上面对于操作步骤的描述，会发现一些问题：1.1人为因素非常容易影响到万用表和产品之间的连接，这些因素包括表笔触碰的位置和力度等。这意味着，这种测量方式很难做到精确；1.2复杂步骤中人为错误发生风险较高，比如读数和记录，均值计算，判断，换句话说，不合格品有可能流入客户端，却没有得到有效地控制；1.3测试需要花费大量的劳动工时。
技术实现思路
针对现有技术的上述问题，本技术设计了一种多通道导通性测试平台。该多通道导通性测试平本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.多通道导通性测试平台，其特征在于，包括：/n机架(10)，所述机架(10)内部设置有控制单元(11)、继电器组(12)和万用表(13)，所述继电器组(12)和万用表(13)分别与所述控制单元(11)相连接；/n测试组件(20)，设置于所述机架(10)上，所述测试组件(20)进一步包括：/n升降平台(21)，具有可上下活动的平台(23)以及位于所述平台(23)上的复数个测试针(24)；/n夹具(22)，设置于所述升降平台(21)一侧，并具有位于所述升降平台(21)上方的夹头(25)。/n

【技术特征摘要】
1.多通道导通性测试平台，其特征在于，包括：
机架(10)，所述机架(10)内部设置有控制单元(11)、继电器组(12)和万用表(13)，所述继电器组(12)和万用表(13)分别与所述控制单元(11)相连接；
测试组件(20)，设置于所述机架(10)上，所述测试组件(20)进一步包括：
升降平台(21)，具有可上下活动的平台(23)以及位于所述平台(23)上的复数个测试针(24)；
夹具(22)，设置于所述升降平台(21)一侧，并具有位于所述升降平台(21)上方的夹头(25)。


2.如权利要求1所述的多通道导通性测试平台，其特征在于，进一步包括：显示装置(30)，与所述控制单元(11)信号连接。


3.如权利要求1所述的多通道导通性测试平台，其特征在于，所述复数个测试针(24)与被测仪表(40)的多个测试端子一一对应。


4.如权利要求3所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：王旭，
申请(专利权)人：西门子传感器与通讯有限公司，
类型：新型
国别省市：辽宁;21