插座遮盖件和测试接口制造技术

一种装置，包括：　　　　第一侧，所述第一侧包括适合通过真空力附着来被附着的通常平坦的表面；　　　　盖部分，所述盖部分包括所述第一侧并且具有至少足以覆盖或者伸展在插座的多个触点之上的尺寸；　　　　与所述盖部分集成的测试器件部分，所述测试器件部分具有多个能量通道，以将对多个能量激励的响应提供给与所述第一侧相对设置的第二侧。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】领域本专利技术的实施方案涉及电子器件接口插座的测试、覆盖和保护。背景电子器件插座(例如用于接纳半导体芯片和处理器的插座)可以在制造之后以塑性(plastic)遮盖件(cover)或盖(lid)插入，以在封装、运送和附着到印刷电路板(PCB)期间保护所述插座和其中的触点(contact)。然而，在制造之后，这样的插座可能在运送之前、在附着到PCB之后和/或在插座PCB组合的测试期间被测试。因此，为了进行测试，常常必须从插座中移除保护盖，将测试设备的部件(component)插入该插座，测试该插座和/或插座PCB组合，移除测试设备的部件，并且将保护性的盖替换到插座中。附图简要说明附图说明图1是在插座中包括装置的系统的倾斜顶部透视图，所述装置具有盖部分和测试器件部分。图2是图1沿线A-A’的侧面剖视图。图3是具有盖部分和测试器件部分的装置的倾斜顶部透视图。图4是将具有盖部分和测试器件部分的装置耦合到插座、运输所述插座和装置以及使用所述装置测试所述插座的过程的流程图。详细说明图1是在插座中包括装置的系统的倾斜顶部透视图，所述装置具有盖部分和测试器件部分。图1示出在插座130中具有装置110的系本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：库尔特·戈德史密斯，詹姆斯·格雷利什，
申请(专利权)人：英特尔公司，
类型：发明
国别省市：