一种在线测试仪的继电器测试方法技术

本发明专利技术公开了一种在线测试仪的继电器测试方法，其包括以下步骤：建立被测继电器的冗余通路，即建立多条通路，除被测继电器外，每条通路经过的继电器完全不同；在其中一条通路中有继电器损坏的情况下，选择另外的通路形成闭合回路，继续进行测试。本发明专利技术方法由于采用至少两条继电器通路形成闭合回路，进行测试，如果两条通路都完好，不影响对被测继电器的判断，即使其中一条通路有问题，另外一条通路仍然能保证测试回路，与现有技术相比，本发明专利技术方法大大减少了由于通路中其它继电器的损坏而导致的对被测继电器做出错误判断，能够快速准确定位问题继电器，节约了解决维护ＤＲＣ卡继电器的时间。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种继电器的测试方法，属于测试仪领域，尤其涉及的是一种在线测试仪的继电器多通路测试方法。
技术介绍
现有技术中，在线测试也称内电路测试，即ICT(IN CIRCUIT TEST，简称ICT)，就是在印制电路板PCB(PRINTED CIRCUIT BOARD，简称PCB)上把器件不拿下来的情况下对器件进行测试的一种测试方法。在线测试可以对单板进行全面检查，测试速度快，故障定位准确。根据板内器件类型，在线测试又分为数字在线测试和模拟在线测试。模拟测试技术是ICT测试中重要的测试技术，主要用于测试印制电路板上的模拟器件、线性器件等非数字器件以及测试电路网络的连接属性(布线的通短路等)，也用于混合测试。模拟在线测试的重要通路是由驱动接收卡DRC(DRIVER RECEIVERCARD，简称DRC)上的继电器形成的，对DRC卡上的继电器进行测试是在线测试仪中对DRC卡自检的重要一项。在线测试对DRC卡继电器测试分为主继电器和节点继电器的自检测试。一台4000点的在线测试仪包括主继电器2496个。传统继电器测试的一般方法如下闭合包含被测继电器及其它相关的继电器形成一条测试通路，通过模拟测试卡ATC(ANOLOG TEST CARD，简称ATC)测试回路的电阻或电压值来判断继电器的打开和闭合状态。采用该方法存在的问题是，在测试回路中，相关的继电器一般有3-5个，如果回路中的其它继电器出现问题如打开卡死，导致通路无法形成闭合回路，就直接影响到被测继电器的闭合测试，根据测试结果会错误的判断被测继电器无法闭合。进而在整个板的继电器测试中，每个被测继电器只有一条测试通路，由于通路中某个继电器的失误，会出现许多无关继电器的报错，导致无法正确定位错误的继电器。由于DRC上的继电器很多，无法快速解决出现问题的继电器，定位排错的维护量非常大。因此，现有技术存在缺陷，而有待于继续改进和发展。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了克服现有技术中的多继电器相关测试无法准确定位的缺点，提供，解决现有技术中存在的导致对被测继电器判断失误的问题。本专利技术的技术方案包括，其包括以下步骤A、建立被测继电器的冗余通路，即建立多条通路，除被测继电器外，每条通路经过的继电器完全不同；B、在其中一条通路中有继电器损坏的情况下，选择另外的通路形成闭合回路，继续进行测试。所述的方法，其中，具体包括步骤如下A1闭合被测的继电器；B1通过模拟测试卡对这多条并联继电器回路进行电阻测试，根据测试结果判断继电器的闭合情况；C1打开被测的继电器；D1通过模拟测试卡对这多条并联继电器回路进行电阻测试，根据测试结果判断继电器的打开情况； E1复位所有的继电器，测试结束。所述的方法，其中，所述步骤B1中通过模拟测试卡进行电阻测试，如果结果小于第一阈值，认为继电器能够闭合，否则认为继电器打开卡死。所述的方法，其中，所述步骤D1中通过模拟测试卡进行电阻测试，如果结果大于第二阈值，认为继电器能够打开，否则认为继电器闭合卡死。所述的方法，其中，所述第一阈值为4欧姆；所述第二阈值为10K欧姆。本专利技术所提供的，由于采用至少两条继电器通路形成闭合回路，进行测试，如果两条通路都完好，不影响对被测继电器的判断，即使其中一条通路有问题，另外一条通路仍然能保证测试回路，与现有技术相比，本专利技术方法大大减少了由于通路中其它继电器的损坏而导致的对被测继电器做出错误判断，能够快速准确定位问题继电器，节约了解决维护DRC卡继电器的时间。附图说明图1是本专利技术方法的继电器自检流程图；图2是本专利技术方法驱动接收卡的继电器的分布示意图。具体实施例方式下面结合附图对技术方案的实施作进一步的详细描述本专利技术在线测试仪的继电器测试方法，如图1所示的，其提出了一种多通路继电器测试技术思想，即建立被测继电器的冗余通路，即建立多条通路，除被测继电器外，每条通路经过的继电器完全不同，在其中一条通路中有继电器损坏的情况下，可以选择另外的通路形成闭合回路。本专利技术方法测试继电器的过程如下 第一步闭合被测的继电器；第二步建立包含被测继电器的两条或两条以上的闭合回路，其中除被测继电器以外，通路上的其他继电器都完全不同；第三步通过模拟测试卡对这两条并联继电器回路进行电阻测试，根据测试结果判断继电器的闭合情况，第四步打开被测的继电器；第五步通过模拟测试卡对这两条并联继电器回路进行电阻测试，根据测试结果判断继电器的打开情况；第六步复位所有的继电器，测试结束。如图2所示是本专利技术的驱动接收卡DRC继电器的分布示意图，对继电器的自检的原理如下采用TISV模式进行测试，其中E级和F级和模拟测试卡ATC连接，在E极激励，F极测量，测量后的电阻通过激励电压/电流进行计算，判断继电器处于打开和闭合状态的标准如下继电器打开测量当被测继电器处于打开状态时，测量的电阻值应该大于第二阈值10K欧姆，否则认为继电器闭合卡死。继电器闭合测量当被测继电器处于闭合状态时，测量的电阻值应该小于第一阈值4欧姆，否则认为继电器打开卡死。举例如下测量主继电器K1的过程如下第一步闭合被测继电器K1；第二步建立E-F之间的两条回路，除被测继电器K1外，每条回路上的继电器都完全不同，回路1继电器包括K1，K2，K3，K4，K5，K6，回路2继电器包括K1，K7，K8，K9，K10，K11；第三步通过模拟测试卡进行电阻测试，如果结果小于第一阈值，认为继电器能够闭合，否则认为继电器打开卡死； 第四步打开被测继电器K1；第五步通过模拟测试卡进行电阻测试，如果结果大于第二阈值，认为继电器能够打开，否则认为继电器闭合卡死；第六步复位所有继电器。如果两条回路中的继电器都能够闭合，能准确判断被测继电器K1的好坏；如果回路1中的继电器K2，K3，K4，K5，K6存在问题，不能够闭合，可以通过回路2形成闭合回路；同理，如果回路2中的继电器存在问题K7，K8，K9，K10，K11，可以通过回路1形成闭合回路，这两种情况都可以对被测继电器K1形成闭合回路，大大提高了对K1继电器测试的准确性。尽管上面结合附图对本专利技术所述方法的几个具体实施例进行了描述，但是本方法并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本方法的启示下，在不脱离本方法宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可以作出很多变形，这些均应属于本专利技术方法的保护之内。权利要求1.，其包括以下步骤A、建立被测继电器的冗余通路，即建立多条通路，除被测继电器外，每条通路经过的继电器完全不同；B、在其中一条通路中有继电器损坏的情况下，选择另外的通路形成闭合回路，继续进行测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，具体包括步骤如下A1闭合被测的继电器；B1通过模拟测试卡对这多条并联继电器回路进行电阻测试，根据测试结果判断继电器的闭合情况；C1打开被测的继电器；D1通过模拟测试卡对这多条并联继电器回路进行电阻测试，根据测试结果判断继电器的打开情况；E1复位所有的继电器，测试结束。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述步骤B1中通过模拟测试卡进行电阻测试，如果结果小于第一阈值，认为继电器能够闭合，否则认为继电器打开卡死。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述步骤D1中通过模本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种在线测试仪的继电器测试方法，其包括以下步骤：Ａ、建立被测继电器的冗余通路，即建立多条通路，除被测继电器外，每条通路经过的继电器完全不同；Ｂ、在其中一条通路中有继电器损坏的情况下，选择另外的通路形成闭合回路，继续进行测试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王永静，傅佳芳，刘彬，段靖荒，廖继红，鹿祥宾，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]