静电放电测试装置及方法制造方法及图纸

一种静电放电测试装置及其方法，用以寻找待测物中测试失败对象。首先，放置待测物于布设有数条导线的测试平台。接着，提供静电脉冲至这些导线的其中一导线。最后，若待测物发生误动作，则待测物中对应导线的一区域内具有测试失败对象。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术有关一种静电放电测试技术，且特别是有关一种静电放电测试装置及 其方法。
技术介绍
静电放电(Electrostatic Discharge, ESD)是造成大多数的电子组件或电 子系统受到过度电性应力(Electrical Overstress ， EOS)破坏的主要因素。这种 破坏会导致半导体组件以及计算机系统等，产生误动作或形成一种永久性的毁坏， 因而影响集成电路(Integrated Circuits, ICs)的电路功能，而使得电子产品工 作不正常。因此，目前市面上所见的电子产品均须通过电磁兼容测试中的静电放 电测试后才能贩售。目前在进行静电放电测试时，通常是利用符合法规规范的静 电仿真器(electrostatic discharge genera/tor, ESD generator)(又称为静 电枪)来产生静电，以放电至待测产品，借此测试产品是否有静电放电缺陷。一般来说，在利用一调整至默认值(例如4 KV)的静电枪进行静电放电测 试时，是将静电枪碰触待测产品的外部壳体的一处，以使得静电电荷能够分布至 整个产品。若待测产品仍然可以正常操作，则代表待测产品通过测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种静电放电测试装置，包括：一测试平台，用以放置一待测物；以及多条导线，布设于该测试平台；其中，当一静电脉冲被提供至这些导线的其中一导线且该待测物发生误动作时，则该待测物中对应该导线的一区域内具有一测试失败对象。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：江进君，
申请(专利权)人：华硕电脑股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[]