一种检测锁相环假锁的方法技术

本发明专利技术公开了一种检测锁相环假锁的方法，包括以下步骤：ａ．初始化锁相环芯片用到的Ｉ／Ｏ管脚；ｂ．给锁相环寄存器配置失锁的数据，使得锁相环处于失锁状态；ｃ．检查锁相环是否处于失锁状态，如果失锁，则表明锁相环正常；如果不失锁，则表明锁相环有故障。采用本发明专利技术，可以及时有效地检测出有假锁现象的锁相环芯片，预防假锁导致的故障，提高了系统的稳定性。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种检测锁相环假锁的方法，其特征在于，包括以下步骤：ａ、初始化锁相环芯片用到的Ｉ／Ｏ管脚；ｂ、给锁相环寄存器配置失锁的数据，使得锁相环处于失锁状态；ｃ、检查锁相环是否处于失锁状态，如果失锁，则表明锁相环正常；如果不失锁，则表明锁相环有故障。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴安军，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]