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测量涂层电阻和电容参数对坑道异常进行预测的方法技术

技术编号:2629564 阅读:167 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
测量涂层电阻和电容参数对坑道异常进行预测的方法。在巷道的表面喷涂导电性涂料,形成探测层,测量每段涂层的电阻和电容参数,根据电阻和电容参数的变化来预测巷道异常情况,本方法不需要安装大量的传感器,实施简单方便,成本较低。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
测量涂层电阻和电容参数对坑道异常进行预测的方法,利用巷道异常情况下,巷道表面会发生变形和电导参数变化的原理,其特征是:在巷道的表面喷涂导电性涂料,形成探测层,测量每段涂层的电阻和电容参数,根据电阻和电容参数的变化来预测巷道异常情况。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:姚福来
申请(专利权)人:姚福来
类型:发明
国别省市:13[中国|河北]

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