利用气体放电检测平板显示器电极线缺陷的检测方法技术

本发明专利技术针对采用Ａｇ、Ａｌ电极等电极结构的等离子体显示板，在制程中产出的Ａｇ、Ａｌ电极等电极的断线缺陷、连线缺陷提出一种快速、可靠的检测方法，即利用单边介质气体放电或双边介质气体放电检测平板显示面板电极线缺陷的检测方法及检测装置，通过控制系统对缺陷信息加以确认、定位、保存及与激光修补机间的传输。本发明专利技术具有能够快速准确地找出前后基板电极线的断线和连线缺陷点以及制作工艺简单，成本低的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种利用气体放电腔体中的气体放电检测平板显示面板电 极线缺陷的检测方法，尤其涉及一种荫罩式等离子体显示器面板上电极线的 检测，具体地说是一种。技术背景目前采用的荫罩式等离子体显示板主要包括前基板、后基板和荫罩。前 基板从玻璃基板起，分别是扫描电极、介质层以及在介质层表面形成的保护层；后基板从玻璃基板起，分别是与扫描电极垂直的寻址电极，介质层以及 在介质层上形成的保护层；夹在前、后基板中间的荫罩是由导电材料(例如 铁或其合金)加工而成的包含网孔阵列的金属薄网板。前后基板上的电极线一般采用印刷，烘千，曝光，显影，烧结的工艺。 但电极线由于工艺控制的难以把握的影响，容易出现断线和连线等缺陷情况。目前检测前后基板电极线开短路的装置基本都是进口的光学检测装置， 这样的装置精密复杂，不仅价格昂贵，而且检测速度也较慢，同时很多部件 国内难以买到，需要厂商派人前来维护，维护费用高不说，周期还很长，对 于装置维护使用不利。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有的荫罩式等离子体前后基板电极线的开短路检 测速度较慢，装置昂贵，维护不方便等问题。提出一种利用气体放电检测平 板显示器电极线缺陷的检测方法，它可广泛用于具有Ag电极的PDP基板的生 产中。本专利技术的技术方案是一种，包括平板显 示器电极断线缺陷和连线缺陷检测方法，其特征是所述的电极断线缺陷和连线缺陷检测方法为首先制备一块测试用面板l，该测试用面板1由玻璃基板la、在玻璃基板la上形成的测试电极lb以及在电极lb上局部测试区域内覆盖的绝缘介质 层lc组成；取待测面板2，该待测面板由玻璃基板2a、在玻璃基板2a上形 成的待测导电电极组2b组成；将待测面板2与测试用面板1面向组合，中间 保持一定的间隙，充入一定的工作气体；在测试电极lb和待测导电电极组 2b的一端加上一定的交流电压，使工作气体产生气体放电，发出可见光；通 过检测可见光的分布，若待测导电电极组2b中的某电极在某处断开，则在此 断点之后的待测导电电极与测试用面板1之间就形成一段不发光区域，亮暗 交接点即是这条电极线的断线点处；若是发现某待测电极线的中间某处发光 偏弱，即该电极线的发光线条有凹陷，则凹陷处即为该电极线的不完全断线 缺口处；若在两相邻待测电极之间的暗区检测到发光点，则该发光点即为电 极间短路或电极边缘不整；再通过局部光学检査对上述各缺陷点作进一步的 缺陷类型判定，并将此结果送至相应的控制系统中加以记录，为后续的修补 提供依据。所述的电极断线和连线缺陷的检测方法为首先将待测面板2与测试用 面板l面向组合，放置于检测台4上，通入一定的工作气体6后，加上适当 的交流电压5，在控制系统ll作用下，检测头8在X、 Y方向以适当的光斑 对所检测的面板2进行扫描检测，若是发现一段不发光区域，则此根电极线 的亮交接点即为该电极线的完全断线点13，若是发现某待测电极线的中间某 处发光偏弱，即该电极线的发光线条有凹陷，则凹陷处即为该电极线的不完 全断线缺口处，系统给出提示，通过CCD进一步确定断线性质，以确定是 需修补的不完全断线15还是不影响显示效果而不需要修补的不完全断线14， 并在控制系统ll中记录断线的位置，为后道的切断修补程序提供指令；若在 两相邻待测电极之间的暗区检测到发光点，则该发光点即为电极间短路16 或电极边缘不整17，系统给出提示，通过CCD进一步确定断线性质，并在 控制系统ll中记录连线的位置，为后道的切断修补程序提供指令。所述的交流电5的波形可以是正弦波、方波、三角波或其组合，电压范围是50V 2000V。所用的工作气体6为Ne2+Ar2、 Ne2+Xe2或多种不同稀有惰性气体的混 合气体，混合气体的气压范围为1.0Pa 1.5X105Pa。测试用面板1的测试电极可以是线条状的电极lb，也可以是覆盖整个基 板的面状电极lb,。测试用面板1与待测面板2之间的间距7为0.01mm 3.00mm。所述的测试面板或略小于待测面板，测试面板1与待测面板2保持相对 固定的静态检测方式，此时检测仅移动检测头8;或所述的测试面板1小于待 测面板2，检测时固定待测试面板2，同时移动测试面板1和检测头8的动态 扫描的检测方式。本专利技术的有益效果1、 能够快速准确地检出前后基板电极线的断线和连线缺陷点。2、 具有制作工艺简单，成本低的优点。相比于目前进口的光学检测设备价格昂贵，检测较慢，维护困难等缺点， 本专利技术的优势明显，是一个良好的替代选择。四. 附图说明图1是本专利技术具有电极图案的测试面板示意图之一。 图2是本专利技术具有电极图案的测试面板示意图之二。 图3是具有电极图案的待测面板示意图。图4是本专利技术的单边介质放电电极线图案缺陷检测装置的意图。 图5是本专利技术的双边介质放电电极线图案缺陷检测装置的示意图。 图6是本专利技术的平板显示器面板电极线图案缺陷种类示意图。 图7本专利技术的待测面板引线区电极线分类示意图。五. 具体实施例 下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的说明。实施例一。 如图1-7所示。 实施例一。一种，包括以下步骤首先将待测面板2上电极线2b的引线区电极线相应分为A、 B、 C三类， 将待测面板2与测试用面板1面向组合，中间保持一定的间隙，充入一定的 工作气体;在测试电极lb和待测导电电极组2b的一端加上一定的交流电压， 然后依次给A类或B类或C类)电极线加上适当的交流电压，在控制系统 ll作用下，检测头8在X、 Y方向以适当的光斑对所检测的面板2进行扫描 检测，若某根A (或B或C)类电极线出现出现不发光区域，则亮暗交接点 即是这条电极线的完全断线点13处，若是发现某根A (或B或C)类测电 极线的中间某处发光偏弱，即该电极线的发光线条有凹陷等，则凹陷处即为 该电极线的不完全断线缺口处，系统给出提示，通过CCD进一步确定断线 性质，以确定是需修补的不完全断线15还是不影响显示效果而不需要修补的 不完全断线14，并在控制系统11中记录断线点的位置，为后道的切断修补 程序提供指令，并在控制系统11中记录断线缺点的位置，然后用修补机对断 线点进行修补；若在两相邻待测电极之间的暗区检测到发光点，则该发光点 即为电极间短路点16或电极边缘不整点17;在控制系统11中记录短路点16 或电极边缘不整点17的位置，最后采用激光进行切断。实施例二。考虑给加压电源5的夹具制备A、 B、 C三类电极线比较困难，则考虑 仅给加压电源5的夹具制备一类电极线，假设为A类(空出B、 C类电极线 的位置)，然后将加压电源5的夹具制备成可左右精确移动的装置，分三次检 测(假设加压电源5的夹具在测试时朝同一个方向移动)，然后将待测面板2 上电极线2b的引线区电极线相应分为A、 B、 C三类，将待测面板2与测试 用面板l面向组合，中间保持一定的间隙，充入一定的工作气体；在测试电 极lb和待测导电电极组2b的一端加上一定的交流电压，在控制系统13作用 下，检测头11在X、 Y方向以适当的光斑对所检测的面板18进行扫描检测， 第一次加压时将加压电源5的夹具的电极线与待测面板上A类电极线相重 叠，若某根A类电极线出现出现不发光区域，则亮暗交接点即是这条电极线的完全断线点13处，若是发现某根A类测电极线的中间某处发光偏弱，即 该电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用气体放电检测平板显示器电极线缺陷的检测方法，包括平板显示器电极断线缺陷和连线缺陷检测方法，其特征是：所述的电极断线缺陷和连线缺陷检测方法为：首先制备一块测试用面板（１），该测试用面板（１）由玻璃基板（１ａ）、在玻璃基板（１ａ）上形成的测试电极（１ｂ）以及在电极（１ｂ）上局部测试区域内覆盖的绝缘介质层（１ｃ）组成；取待测面板（２），该待测面板由玻璃基板（２ａ）、在玻璃基板（２ａ）上形成的待测导电电极组（２ｂ）组成；将待测面板（２）与测试用面板（１）面向组合，中间保持一定的间隙，充入一定的工作气体；在测试电极（１ｂ）和待测导电电极组（２ｂ）的一端加上一定的交流电压，使工作气体产生气体放电，发出可见光；通过检测可见光的分布，若待测导电电极组（２ｂ）中的某电极在某处断开，则在此断点之后的待测导电电极与测试用面板（１）之间就形成一段不发光区域，亮暗交接点即是这条电极线的断线点处；若是发现某待测电极线的中间某处发光偏弱，即该电极线的发光线条有凹陷，则凹陷处即为该电极线的不完全断线缺口处；若在两相邻待测电极之间的暗区检测到发光点，则该发光点即为电极间短路或电极边缘不整；再通过局部光学检查对上述各缺陷点作进一步的缺陷类型判定，并将此结果送至相应的控制系统中加以记录，为后续的修补提供依据。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄秋铭，张雄，李青，朱立锋，林青园，王保平，陈程，
申请(专利权)人：南京华显高科有限公司，
类型：发明
国别省市：84[中国|南京]