一种光电开关电特性测试治具制造技术

本实用新型专利技术提供了一种光电开关电特性测试治具，包括底座，设置在底座表面一侧的测试台，所述测试台上设置用于容置光电开关的摆放槽，所述底座表面另一侧设置立柱，把手通过滑动机构设置在立柱一侧并可在立柱侧部上下移动，所述把手的另一侧固定设置暗盒，且所述暗盒位于所述摆放槽上方，当所述暗盒随所述把手下移后能完全罩住放在所述摆放槽上的光电开关，所述摆放槽内设置挡板，所述挡板两侧水平设置弹簧顶针。本实用新型专利技术提供的一种光电开关电特性测试治具，能够避免引脚弯曲且测试简单。

【技术实现步骤摘要】
一种光电开关电特性测试治具
本技术涉及光电开关性能测试
，特别涉及一种光电开关电特性测试治具。
技术介绍
引脚折弯型光电开关对引脚间距要求较高，而当前的光电开关电特性测试治具在对光电开关测试过程中，由于挤压很容易导致光电开关的引脚发生弯曲，导致引脚间距改变，从而导致经测试后的光电开关的良品率降低，影响经济效益。并且，对光电开关进行电特性测试时，需要在黑暗环境的条件下完成，而在完全黑暗条件下对光电开关进行测试，很难操作不易完成，从而造成了测试的难度。因此，目前亟需一种能够轻易在完全黑暗条件下完成光电开关的电性能测试且不会造成光电开关引脚弯曲的测试治具。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种能够避免引脚弯曲且测试简单的光电开关电特性测试治具。为解决上述技术问题，本技术提供了一种光电开关电特性测试治具，包括底座，设置在底座表面一侧的测试台，所述测试台上设置用于容置光电开关的摆放槽，所述底座表面另一侧设置立柱，把手通过滑动机构设置在立柱一侧并可在立柱侧部上下移动，所述把手的另一侧固定设置暗盒，且所述暗盒位于所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光电开关电特性测试治具，其特征在于：包括底座(1)，设置在底座(1)表面一侧的测试台(2)，所述测试台(2)上设置用于容置光电开关(20)的摆放槽(8)，所述底座(1)表面另一侧设置立柱(3)，把手(6)通过滑动机构设置在立柱(3)一侧并可在立柱(3)侧部上下移动，所述把手(6)的另一侧固定设置暗盒(7)，且所述暗盒(7)位于所述摆放槽(8)上方，当所述暗盒(7)随所述把手(6)下移后能完全罩住放在所述摆放槽(8)上的光电开关(20)，所述摆放槽(8)内设置用于保护光电开关(20)的引脚(21)的挡板(9)，所述挡板(9)两侧水平设置弹簧顶针(10)，所述挡板(9)的外部尺寸与所述光电...

【技术特征摘要】
1.一种光电开关电特性测试治具，其特征在于：包括底座(1)，设置在底座(1)表面一侧的测试台(2)，所述测试台(2)上设置用于容置光电开关(20)的摆放槽(8)，所述底座(1)表面另一侧设置立柱(3)，把手(6)通过滑动机构设置在立柱(3)一侧并可在立柱(3)侧部上下移动，所述把手(6)的另一侧固定设置暗盒(7)，且所述暗盒(7)位于所述摆放槽(8)上方，当所述暗盒(7)随所述把手(6)下移后能完全罩住放在所述摆放槽(8)上的光电开关(20)，所述摆放槽(8)内设置用于保护光电开关(20)的引脚(21)的挡板(9)，所述挡板(9)两侧水平设置弹簧顶针(10)，所述挡板(9)的外部尺寸与所述光电开关(20)的两列引脚(21)间距相匹配，当光电开关(20)放入摆放槽(8)时，光电开关(20)的两列引脚(21)分列在所述挡板(9)两侧，且所述挡板(9)两侧的弹簧顶针(10)与分列在所述挡板(9)两侧的引脚(21)的个数和位...

【专利技术属性】
技术研发人员：甄文鑫，
申请(专利权)人：沈阳中光电子有限公司，
类型：新型
国别省市：辽宁;21