【技术实现步骤摘要】
本专利技术是有关于 一种I C取放装置，尤指 一种等间距移动的IC 取放装置。
技术介绍
目前IC取放装置从原本单一吸头的取放装置改良为多个吸 头的取放装置，用于将料盘上盛装的IC取放至下一工作站，以 进行IC斗全测作业或者烧录作业。如中国台湾专利7>告第M299296 号的"IC测试分类机"，其机台上的测试区内包括复数组测试座、 复数组测试单元及抓取机构，测试座分别对应于测试单元，抓取 机构能将单一晶片移出或送至一测试座处，测试座能夹持固定晶 片，并利用对应的测试单元对晶片进行测试。抓耳又机构是由复数 个吸嘴、升降机构及平移机构所构成，吸嘴固定于一支架处并受 升降机构控制整体的升降动作，平移机构则带动升降机构在才几台 内作横向移动，吸嘴另设有相关管路及控制电路，以在预定时间 取放IC。上述抓取放机构虽然具有多个吸嘴，亦能作上下及平行移 动，但只固定于支架处，并无法改变各吸嘴单元之间的距离，所 以需要额外一组抓取机构从料盘上吸取IC至一载料区，再利用 抓取机构从载料区吸取IC至测试座，因需要多设置额外的抓取机构，导致整体机台成本提高，机台的工作效率较低。因...
【技术保护点】
一种等间距移动的ＩＣ取放装置，其特征在于，包含： 一壳体； 一滑轨结构，设于该壳体； 一移动结构，设于该滑轨结构，并滑动于该滑轨结构； 一伸缩机构，具有一固定端、一自由端及复数个轴心，该伸缩机构与该滑轨结构平行，该自由端及该些轴心固定于该移动结构，当该伸缩机构移动时，该固定端与相邻该固定端的该轴心之间的距离、该些轴心之间的距离及该自由端与相邻该自由端的该轴心之间的距离相等； 复数个取放结构，设于该移动结构，以等间距取放复数个ＩＣ； 一驱动装置，设于该壳体；以及 一传动结构，连接该驱动装置与该移动结构，并受控于该驱动装置，以驱动该移动结构。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：罗明志，
申请(专利权)人：崇贸科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71
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