多点测试的全光纤速度干涉装置制造方法及图纸

一种多点测试的全光纤速度干涉装置，由激光器、全光纤干涉装置、光纤延迟线、数据处理等部份组成，其特征是按光路装置是如下结构：激光器（８）发出的光经耦合器Ⅰ（９），由（１）进入耦合器Ⅱ（１０），再进入耦合器Ⅲ（１２），其后是光纤准直器（１３），被测试样品（７）反射，另一路光经光纤延迟线（１５）、光纤准直器（１４），被测试样品（７）反射，在光纤准直器（１３）、（１４）与光纤耦合器（１２）之间是光纤耦合器或光纤延迟线；反射光的光路依次是经耦合器Ⅲ、耦合器Ⅱ、耦合器Ⅰ，在耦合器Ⅱ的（２）端和耦合器Ⅰ的（１７）端是输出的干涉信号，最后干涉信号到达检测器。（*该技术在2012年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术是一种测试样品多点速度的干涉装置。本技术的光纤长度测量装置主要由激光器、全光纤干涉装置、光纤延迟线、数据处理几部分组成。由稳定光源发出的激光经过干涉系统传输至测试样品，携带有样品速度信息的光再次进入干涉系统，最后的干涉信号被光电探测器接收，最后由数据处理系统反演出不同测试点的速度剖面曲线。本技术利用光纤耦合器、光纤、光纤准直器等光纤无源器件，以及稳定光源和光电探测器等有源器件，制成光纤干涉装置。该装置结构如下激光器发出的稳定光源经过光纤耦合器I(9)分光后由耦合器(1)端进入光纤耦合器II(10)，再经过耦合器III(12)，其中一路光经过光纤准直器(13)后，被测试样品(7)反射，另一路光通过光纤延迟线(15)和光纤准直器(14)后，被测试样品(7)反射，通过不同的光纤延迟线后，不同光束被不同的样品反射点反射；经过耦合器III的光经光纤准直器(13)、(14)被反射后，重新返回耦合器III，被其分光后，在3和4端注入耦合器II，从而在1、2端形成稳定的干涉条纹，被探测器I、II所检测。在光纤准直器(13)、(14)与光纤耦合器(12)之间是光纤耦合器或光纤延迟线，在探测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：贾波，
申请(专利权)人：复旦大学，
类型：实用新型
国别省市：