【技术实现步骤摘要】
本专利技术所属
为一种激光测速仪。本专利技术相近技术情况国际上目前常见的二维激光测速仪，大多数能测量垂直于入射光平面内的二维速度分量，使用受到一定限制。例如在轴对称管流测量中，由于管壁曲面的折射影响，无法用上述仪器测得管道内径向速度分量。现有的测量沿光轴平面内二维速度分量的激光沿速仪，使用频率分离或色分离方法。前者结构复杂，需用高性能的光电子器件，价格昂贵;后者只限于使用多谱线工作的激光器(如氩离子激光器)。这两种方法采用单透镜工作时，对轴向速度的测量精度低，影响了它的推广应用。国内情况，目前只有能测量垂直于入射光平面内的二维速度分量的激光测速仪。可测量沿光轴平面内二维速度分量的仪器尚属空白。相近的技术可参阅1.LaserVelocimetrySystems，TSIInc.1987.2.LaserDopperAnemometry，DISAElectronics，1983.3.DifferentialDopplerTechnigueforOn-AxisBackscatterMeasurements，USPatent4，263，002.本专利技术的目的，为...
【技术保护点】
一种可测沿系统光轴和垂直于系统光轴的共面偏振二维频移激光测速仪，它由频移入射光路，接收光系统和信号处理系统三部分组成，其特征在于所说的激光测速仪的三束入射光（１０），（１１），（１２）均来自同一单色光的激光器（１），其中光束（１２）、（１０）分别经过声光调制器（５）、（６），三者处于平行光轴的平面内，三束共面并行光束（１０）、（１１）、（１２）的偏振方向，其光束（１０）和（１２）互相垂直，光束（１１）与光束（１０）、（１２）均成４５°，信号处理系统由电子混频和数据解算装置结合组成。
【技术特征摘要】
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