一种改善低亮度Mura的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种改善低亮度Mura的方法和装置，包括事先采集好全分辨率的灰度与亮度的映射表LUT1以及降分辨率的亮度与灰度的映射表LUT2，平均亮度计算单元，输出灰度计算单元以及输出单元，并公开了一种改善低亮度Mura的方法，在保持整体亮度不变的前提下，采用降分辨率进行处理，使用较高亮度而低分辨率的像素替代原来低亮度而高分辨率的像素，达到改善Mura的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种改善低亮度Mura的方法和装置
本专利技术涉及图像处理领域，特别是一种改善低亮度Mura的方法和装置。
技术介绍
在AMOLED(ActiveMatrixOrganicLightEmittingDiode)面板制造过程中，由于晶化工艺局限性，在大面积玻璃基板上制作的LTPSTFT时，不同位置的TFT通常在阈值电压、迁移率等电学参数上具有非均匀性，这种非均匀性会转化为亮度差异，称为Mura现象。为了改善显示效果，需要采取补偿方式，有内部补偿和外部补偿两种方式。内部补偿是指利用TFT构建的子电路在像素内部进行补偿的方法，补偿范围有限。外部补偿是一种通过外部驱动电路或者设备感知像素的电学或光学特性，然后对其进行补偿的方法。外部补偿根据数据抽取方式可以分为光学抽取式和电学抽取式。其中光学抽取的方式有结构简单，方法灵活的特点。目前，常用的Demura技术就是光学抽取方式的外部补偿方法。Demura的一般步骤有：(1)点亮面板，显示数个灰阶画面；(2)使用CCD照相机拍摄上述画面，获取Mura的亮度信息；(3)根据亮度信息分析pixel颜色分布本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种改善低亮度Mura的方法，其特征在于：它包括以下步骤：/nS1、亮度采集；/nS2、平均亮度计算；/nS3、输出灰度计算；/nS4、降分辨率输出。/n

【技术特征摘要】
1.一种改善低亮度Mura的方法，其特征在于：它包括以下步骤：
S1、亮度采集；
S2、平均亮度计算；
S3、输出灰度计算；
S4、降分辨率输出。


2.根据权利要求1所述的一种改善低亮度Mura的方法，其特征在于：所述步骤S1包括：
S11、在全分辨率下，获取第一映射表LUT1：低亮度时输入灰度与输出亮度的映射表，
其中表示选择的灰度绑点值，Y＝[Lv1,Lv2,...,Lvn]表示灰度绑点值所对应的亮度值，任意低亮度的输入灰阶都可以通过LUT1查表内插计算得到对应的亮度值；
S12、在降分辨率下，获取第二映射表LUT2：中低亮度时输出亮度与输入灰度的映射表LUT2:[Gray′1,Gray′2,...,Gray′n]＝[flow(Lv′1),flow(Lv′2),...,flow(Lv′n)]，
其中X'＝[Lv′1,Lv′2,...,Lv′n]是输出的亮度值，Y'＝[Gray′1,Gray′2,...,Gray′n]表示亮度值所对应的灰度值，任意中低亮度时的亮度都可以通过LUT2查表内插计算得到对应的灰度值。


3.根据权利要求1所述的一种改善低亮度Mura的方法，其特征在于：所述步骤S2包括：
S21、设定m行n列的检测模块，构成m×n的检测模块，m和n分别为大于等于1的自然数且m和n不同时等于1，分别对输入图片R/G/B三个通道进行处理，每次取m行数据进行处理，而模块内每行需要包含n个R/G/B数据。


4.根据权利要求3所述的一种改善低亮度Mura的方法，其特征在于：所述对输入图片R/G/B三个通道进行处理，是指对通道内的子像素分别进行处理：
处理R通道数据时，检测模块中含有m×n个R子像素；处理G通道数据时，检测模块中含有m×n个G子像素；处理...

【专利技术属性】
技术研发人员：张娇，吴樟福，秦良，
申请(专利权)人：昇显微电子苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32