一种基于平均循环周期图的谱相关密度计算方法技术

本发明专利技术公开了一种基于平均循环周期图的谱相关密度计算方法，包括以下步骤：给定信号x、窗函数的采样点数N

【技术实现步骤摘要】
一种基于平均循环周期图的谱相关密度计算方法
本专利技术涉及循环平稳信号
，特别是涉及一种基于平均循环周期图的谱相关密度计算方法。
技术介绍
循环平稳信号是一类特殊的非平稳信号，其统计特征参量随时间呈现出周期或多周期的变化规律，循环平稳信号在工程应用中具有非常重要的现实意义，已在通信、机电设备故障诊断等领域得到了广泛的应用。用来描述循环平稳信号的二阶循环统计量主要有循环自相关函数(CyclicAutocorrelationFunction，简称CAF)和谱相关密度(SpectralCorrelationDensity，简称SCD)函数。谱相关密度估计常用的方法有循环相关图和循环周期图。为了提高谱相关密度的估计效率，基于循环周期图方法，学者们提出了多种估计算法。例如时域平滑循环周期图(TimeSmoothedCyclicPeriodogram，简称TSCP)、平均循环周期图(AveragedCyclicPeriodogram，简称ACP)和多窗口循环周期图(MultipaperCyclicPeriodogram，简称MCP)等估计方法本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于平均循环周期图的谱相关密度计算方法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤1，给定信号x、窗函数的采样点数N

【技术特征摘要】
1.一种基于平均循环周期图的谱相关密度计算方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1，给定信号x、窗函数的采样点数Nw、计算FFT时的采样点数Nfft和分段序列重叠的采样点数Noverlap；
步骤2，将信号x进行加窗分段，得到各分段信号xwi，xwi的采样点数为Nw；
步骤3，计算各加窗分段信号xwi的Nfft点傅里叶变换及其共轭
步骤4，计算的toeplitz矩阵和的hankel矩阵
步骤5，计算矩阵与矩阵的点积
步骤6，计算所有分段信号的均值，得到谱相关密度S。


2.如权利要求1所述的基于平均循环周期图的谱相关密度计算方法，其特征在于，所述步骤2中，xwi的采样点数为Nw，xwi计算公式为



其中：R为连续两个窗口平移的采样点数，R＝NW-Noverlap；
K为信号x分段的总数量，表示不大于(Lx-R)/R的最大整数；Lx为信号x的总采样点数，即信号x的长度；w(m...

【专利技术属性】
技术研发人员：李辉，张宇平，
申请(专利权)人：天津职业技术师范大学中国职业培训指导教师进修中心，
类型：发明
国别省市：天津;12