基波频率测量方法、测量终端及存储介质技术

本发明专利技术公开了一种基波频率测量方法、测量终端及存储介质，所述方法包括：根据预设采样频率采集多个原始电压信号；对采集的原始电压信号进行数字低通滤波处理，获得滤波后信号；根据各滤波后信号对应的电压值和位置序列号，获取过零点和过零点的位置序列号；选择任意两个过零点，并根据选择的两个过零点的位置序列号、选择的两个过零点间的过零点数量和预设采样频率，获得基波频率。本发明专利技术解决了现有基于一元线性回归的过零检测法测量频率受谐波影响大的问题。

【技术实现步骤摘要】
基波频率测量方法、测量终端及存储介质
本专利技术涉及电力测量领域，尤其涉及一种基波频率测量方法、测量终端及计算机可读存储介质。
技术介绍
频率是反映电力系统运行状态的重要参数，是电力系统测量设备或仪器重点监测的参数。频率测量的准确度也直接影响到电力测量的准确度。目前常用频率检测方法为基于一元线性回归的过零检测法，该方法在正弦信号下测频准确度较高，且对噪声抑制能力较强，但受谐波影响较大。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提出一种基波频率测量方法、测量终端及计算机可读存储介质，旨在解决现有基于一元线性回归的过零检测法测量频率受谐波影响大的问题。为实现上述目的，本专利技术提供一种基波频率测量方法，包括步骤：根据预设采样频率采集多个原始电压信号；对采集的原始电压信号进行数字低通滤波处理，获得滤波后信号；根据各滤波后信号对应的电压值和位置序列号，获取过零点和过零点的位置序列号；选择任意两个过零点，并根据选择的两个过零点的位置序列号、选择的两个过零点间的过零点数量和预设采样频率，获得基波频率本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基波频率测量方法，其特征在于，包括步骤：/n根据预设采样频率采集多个原始电压信号；/n对采集的原始电压信号进行数字低通滤波处理，获得滤波后信号；/n根据各滤波后信号对应的电压值和位置序列号，获取过零点和过零点的位置序列号；/n选择任意两个过零点，并根据选择的两个过零点的位置序列号、选择的两个过零点间的过零点数量和预设采样频率，获得基波频率。/n

【技术特征摘要】
1.一种基波频率测量方法，其特征在于，包括步骤：
根据预设采样频率采集多个原始电压信号；
对采集的原始电压信号进行数字低通滤波处理，获得滤波后信号；
根据各滤波后信号对应的电压值和位置序列号，获取过零点和过零点的位置序列号；
选择任意两个过零点，并根据选择的两个过零点的位置序列号、选择的两个过零点间的过零点数量和预设采样频率，获得基波频率。


2.根据权利要求1所述的基波频率测量方法，其特征在于，所述根据各滤波后信号对应的电压值和位置序列号，获取过零点和过零点的位置序列号的步骤包括：
判断相邻两个滤波后信号中是否只存在一个滤波后信号的电压值为0；
若存在，则确定电压值为0的滤波后信号为过零点，以及电压值为0的滤波后信号的位置序列号为过零点的位置序列号；
若不存在，判断相邻两个滤波后信号的电压值正负符号是否相同；
若相邻两个滤波后信号的电压值正负符号不相同，则确定相邻两个滤波后信号之间存在过零点；
根据预设的过零点位置序列号计算公式、相邻两个滤波后信号的电压值和位置序列号，计算获得两个滤波后信号间的过零点的位置序列号，所述过零点位置序列号计算公式为：
Z零＝Z2-u2/(u2-u1)，其中，Z零为两个滤波后信号间的过零点的位置序列号，Z2为两个滤波后信号中位于过零点后的滤波后信号的位置序列号，u2为两个滤波后信号中位于过零点后的滤波后信号的电压值，u1为两个滤波后信号中位于过零点前的滤波后信号的电压值。


3.根据权利要求2所述的基波频率测量方法，其特征在于，所述根据选择的两个过零点的位置序列号、选择的两个过零点间的过零点数量和预设采样频率，获得基波频率的步骤包括：
根据预设的周期数计算公式、选择的两个过零点间的过零点数量，获得选择的两个过零点间的周期数，其中所述预设的周期数计算公式为：
N＝(n+1)/2，N为选择的两个过零点间的周期数，n为选择的两个过零点间的过零点数量；
根据预设的基波频率计算公式、选择的两个过零点的位置序列号、选择的两个过零点间的周期数和预设采样频率，获得基波频率，其中所述预设的基波频率计算公式为：
f0＝N*fs/(Z零2-Z零1)，f0为基波频率，fs为预设的采样频率，N为选择的两个过零点间的周期数，Z零1为选择的两个过零点中位置在前的过零点的位置序列号，Z零2为选择的两个过零点中位置在后的过零点的位置序列号。

【专利技术属性】
技术研发人员：汪龙峰，黄杰，汤博，潘晓琰，
申请(专利权)人：威胜集团有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南;43