一种防止线芯剥伤的检测电路制造技术

技术编号:26246592 阅读:31 留言:0更新日期:2020-11-06 17:26
本申请公开了一种防止线芯剥伤的检测电路,包括依次连接的振荡积分模块、放大检波模块以及MCU处理模块,所述振荡积分模块依次包括L2与C63并联至三极管集电极形成的LC谐振、C61与C62形成的基极反馈、C64与C76组成的电容三点式自激振荡,振荡信号基波通过R80去耦后通过天线ANT连接线链接至剥线机刀片,还依次包括将微分信号去耦并联的C82与R78、U22与R77与R73以及C73组成的积分电路、R75与C74组成的滤波电路;所述放大检波模块依次包括U21A、R4、R5、C8组成的放大电路以及U21B、U21C双向检波电路。本实用新型专利技术可以在剥线机工作中剥线刀片碰到线芯时感知并且报警提示,克服传统的剥线机剥伤线芯时的隐患。

【技术实现步骤摘要】
一种防止线芯剥伤的检测电路
本申请涉及检测电路,特别涉及一种防止线芯剥伤的检测电路。
技术介绍
目前市面上的大多剥线机属于开环控制方式并不具备剥线检测功能,无法根据供给线束的情况实时闭环调微调剥线机的工况,容易出现线芯被刮伤的情况并且无法及时高效地发现该生产环节中产生的品质问题,不利于后道工序的品控,可能为最终成品留下品质隐患。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种防止线芯剥伤的检测电路,可以在剥线机工作中剥线刀片碰到线芯时感知并且报警提示,克服传统的开环控制剥线机剥伤线芯时的隐患。为实现上述目的,本技术提供如下技术方案。本申请实施例公开了一种防止线芯剥伤的检测电路,包括依次连接的振荡积分模块、放大检波模块以及MCU处理模块,所述振荡积分模块依次包括L2与C63并联至三极管集电极形成的LC谐振、C61与C62形成的基极反馈、C64与C76组成的电容三点式自激振荡,振荡信号基波通过R80去耦后通过天线ANT连接线链接至剥线机刀片,还依次包括将微分信号去耦并联的C82与R78、U22与R77与R73以及C7本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种防止线芯剥伤的检测电路,其特征在于,包括依次连接的振荡积分模块、放大检波模块以及MCU处理模块,/n所述振荡积分模块依次包括L2与C63并联至三极管集电极形成的LC谐振、C61与C62形成的基极反馈、C64与C76组成的电容三点式自激振荡,振荡信号基波通过R80去耦后通过天线ANT连接线链接至剥线机刀片,还依次包括将微分信号去耦并联的C82与R78、U22与R77与R73以及C73组成的积分电路、R75与C74组成的滤波电路;/n所述放大检波模块依次包括U21A、R4、R5、C8组成的放大电路以及U21B、U21C双向检波电路。/n

【技术特征摘要】
1.一种防止线芯剥伤的检测电路,其特征在于,包括依次连接的振荡积分模块、放大检波模块以及MCU处理模块,
所述振荡积分模块依次包括L2与C63并联至三极管集电极形成的LC谐振、C61与C62形成的基极反馈、C64与C76组成的电容三点式自激振荡,振荡信号基波通过R80去耦后通过天线ANT连接线链接至剥线机刀片,还依次包括将微分信号去耦并联的C82与R78、U22与R77与R73以及C73组成的积分电路、R75与C74组成的滤波电路;
所述放大检波模块依次包括U21A、R4、R5、C8组成的放大电路以及U21B、U21C双向检波电路。


2.根据权利要求1所述的防止线芯剥伤的检测电路,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱海鹏
申请(专利权)人:江阴信邦电子有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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