一种线聚焦PVDF压电薄膜超声探头制造技术

一种线聚焦ＰＶＤＦ压电薄膜超声探头，属于无损检测技术领域。包括有压电元件、浇铸于压电元件上的背衬层，由壳体和壳盖组成的外壳；其特征在于：所述的压电元件为上表面覆着正电极（５）并下表面覆着负电极（４）的ＰＶＤＦ压电薄膜（３）；壳体（１）为中空立方体下表面经过加工为上凹弧形的壳体，下表面弧度大于待测材料的瑞利角的两倍；所述ＰＶＤＦ压电薄膜（３）紧密连接在壳体（１）下表面，呈与下表面弧度一致的上凹弧形，其负电极（４）与壳体（１）内壁粘接，其正电极（５）通过正极引线（７）与安装于壳盖（２）的射频插座（９）正极连接，背衬层（６）浇铸于压电薄膜（３）上。本实用新型专利技术能实现对材料力学性能的评价和各向异性的分析。（*该技术在2015年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

一种采用PVDF压电薄膜为换能元件的线聚焦超声探头，用于纵波波速及漏表面波波速的测量，进而实现对材料力学性能的评价和各向异性的分析，属于无损检测

技术介绍
随着科学技术的发展，材料科学的发展日新月异，各种新材料的研究和制备技术受到广泛的关注，而对于材料力学性能的测量和分析也愈加重要。由于新材料本身特性以及制备工艺的影响，有些材料能制备出的尺寸往往有限，例如纳米材料，从而使得对其力学性能的测量无法采用传统方法，如人们熟知的测量材料弹性常数的拉伸破坏试验方法；另外，由于特殊的制备工艺所致，往往所制备的材料，其力学性能还具有各向异性的特征。因此，对这些材料力学性能的测量和分析，需要寻求新的手段来解决。因为超声波在材料中传播的波速受材料的杨氏模量及泊松比这两个弹性常数影响并呈函数关系，所以通过测量超声波在材料中的传播速度来间接测量材料的弹性常数的方法为小尺寸材料力学性能评价提供了一个新的途径，如果能测得材料中纵波波速及表面波波速，那么就可以推导出材料的杨氏模量和泊松比这两个参数。单独测量纵波波速可以采用已有的纵波直探头脉冲回波法，但这种方法无法测量表面波波速。在已有的超声检测技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种线聚焦ＰＶＤＦ压电薄膜超声探头，包括有压电元件、浇铸于压电元件上的背衬层，由壳体和壳盖组成的外壳；其特征在于：所述的压电元件为上表面覆着正电极（５）并下表面覆着负电极（４）的ＰＶＤＦ压电薄膜（３）；壳体（１）为中空立方体下表面经过加工为上凹弧形的壳体，下表面弧度大于待测材料的瑞利角的两倍；所述ＰＶＤＦ压电薄膜（３）紧密连接在壳体（１）下表面，呈与下表面弧度一致的上凹弧形，其负电极（４）与壳体（１）内壁粘接，其正电极（５）通过正极引线（７）与安装于壳盖（２）的射频插座（９）正极连接，背衬层（６）浇铸于压电薄膜（３）上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴斌，毕晓东，何存富，宋国荣，魏晓玲，孟涛，
申请(专利权)人：北京工业大学，
类型：实用新型
国别省市：11[中国|北京]