荷载-沉降-时间相关参数测量仪制造技术

技术编号:2623044 阅读:238 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种荷载-沉降-时间相关参数测量仪,通过增设一个提供精确测量时序的时基单元和引入微处理机系统和相关数据接口能更精确、有机地显示及处理相关参数。其时基单元包括晶振时基发生器、时间-地址逻辑电路、固定时序发生器和时间数据显示器,其提供的固定时序输出能简化操作并克服人为疲劳性差错,时基单元还可增设随机时序发生器和防抖随机采样电路,进而提高测试适应性。适用地质勘探领域。(*该技术在2003年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及工程勘探原位测试用的P(荷载)-S(沉降)-t(时间)相关参数测量仪的结构改进。在工程勘探原位测试中,特别是建筑工程的地基测试中,常需测地基在荷载压力下出现的沉降。最原始的测法是先堆荷载,记下荷载压力,再测土地沉降,不仅测试麻烦,而且在堆载处测沉降也较危险,现在已有从安全角度出发利用传统力学测试仪和位移传感器同时测P、S参数的测试仪。然而沉降量(S)参数不只与荷载量(P)参数有关,还会随荷载持续时间量(t)而变化,因此需根据不同的测试要求给予相关的测试时间间隔,例如快速测沉降,需以15分钟间隔测一次,而常规测沉降,则第1小时内以1分钟间隔,第2小时内以5分钟间隔,第3小时内以10分钟间隔……来进行测试。以往对此相关时间,是通过人工观察时钟方式,控制时间程序。由于测试周期较快,人为控制下,易产生疲劳性差错,而且控制时间的精度显然较低。本技术欲解决上述问题,其目的在于,提供一种能减轻测试人员操作负担、避免测试数据人为因素差错、能在一台测量仪上同时显示P-S-T相关参数的测量仪。本技术是这样实现的在包括外壳、电源、带数据显示窗口和功能控制件的面板、力传感器及荷载测量电路、位本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种P(荷载)-S(沉降)-t(时间)相关参数测量仪,包括外壳、电源、带数据显示窗口和功能控制件的面板、力传感器及荷载测量电路、位移传感器及位移测量电路、A/D转换器、数据显示器、数据输出打印机,其特征在于:它还包括一个由程序存贮器、数据存贮器和CPU组成的微处理机系统、一个相关数据接口和一个提供精确测量时序的时基单元,该时基单元包括时基发生器、时间-地址逻辑电路IC↓[2]、固定时序发生器和时间数据显示器;上述时基发生器由集成电路IC↓[1]、晶体J↓[1]、电阻器R↓[1]、R↓[2]和电容器C↓[1]、C↓[2]组成,IC↓[1]的输出端口与时间数据显示器的CP端和时间-逻辑电路的CP端...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李武张定宪胡海平
申请(专利权)人:上海新卫自动化设备工程公司
类型:实用新型
国别省市:31[中国|上海]

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