一种一维码检测方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本申请涉及条码质量检测技术领域，具体涉及一种一维码检测方法、装置、存储介质及电子设备，实现了对一维码质量的检测，解决了无法检测一维码是否印刷不清晰(缺失)、存在污点瑕疵的问题。方法包括：获取待检测图像；提取所述待检测图像中的一维码图像；对所述一维码图像进行分行处理，得到多行子图像块；判断每个所述子图像块中的条数量与预设条数量是否相匹配，并根据匹配结果确定所述一维码图像中的一维码质量是否合格。

【技术实现步骤摘要】
一种一维码检测方法、装置、存储介质及电子设备
本申请涉及条码质量检测
，特别地涉及一种一维码检测方法、装置、存储介质及电子设备。
技术介绍
一维码主要用于商品标识，其是由一组规则排列的条、空以及对应的字符组成的标记，“条”指对光线反射率较低的部分，“空”指对光线反射率较高的部分，这些条和空组成的数据表达一定的信息，并能够用特定的设备识读，转换成与计算机兼容的二进制和十进制信息。在实际应用中，印刷得到的一维码可能存在印刷不清晰(例如，缺失)，或存在污点瑕疵等质量问题，但是，目前印刷得到的一维码无法实现质量检测。因此，现有技术中存在无法检测一维码是否印刷不清晰(缺失)、存在污点瑕疵的问题。
技术实现思路
本申请提供一种一维码检测方法、装置、存储介质及电子设备，解决了无法检测一维码是否印刷不清晰(缺失)、存在污点瑕疵的问题。第一方面，本申请提供了一种一维码检测方法，所述方法包括：获取待检测图像；提取所述待检测图像中的一维码图像；对所述一维码图像进行分行处理，得到多行子图像块；判断每个所述子图像块中的条数量与预设条数量是否相匹配，并根据匹配结果确定所述一维码图像中的一维码质量是否合格。根据本申请的实施例，可选的，上述一维码检测方法中，提取所述待检测图像中的一维码图像，包括：对所述待检测图像进行二值化处理，得到二值化图像；对所述二值化图像做闭运算处理，得到包括多个连通区域的第一图像；确定所述第一图像中包括第一目标像素值且面积最大的连通区域，并将该连通区域作为目标区域；在所述待检测图像中提取与所述目标区域处于相同位置所对应的图像，并将该图像作为一维码图像。根据本申请的实施例，可选的，上述一维码检测方法中，在所述待检测图像中提取与所述目标区域处于相同位置所对应的图像，包括：以所述第一图像的任意一个顶点作为坐标原点，并建立坐标系；根据建立的所述坐标系，确定所述目标区域的至少一组顶点坐标，其中，每组所述顶点坐标为所述目标区域的不相邻的两个顶点坐标；根据至少一组所述顶点坐标，在所述待检测图像中提取与所述目标区域处于相同位置所对应的图像。根据本申请的实施例，可选的，上述一维码检测方法中，在对所述待检测图像进行二值化处理之前，所述方法还包括：对所述待检测图像进行预处理，其中，所述预处理包括高斯模糊处理和梯度处理中的至少一种。根据本申请的实施例，可选的，上述一维码检测方法中，判断每个所述子图像块中的条数量与预设条数量是否相匹配，并根据匹配结果确定所述一维码图像中的一维码质量是否合格，包括：以水平方向遍历每个所述子图像块的像素，统计每个所述子图像块中由第二目标像素值变为第三目标像素值的次数，并将该次数作为该子图像块对应的条数量；当存在至少预设数量的所述子图像块对应的条数量与所述预设条数量不匹配时，确定所述一维码图像中的一维码质量不合格。根据本申请的实施例，可选的，上述一维码检测方法中，在判断每个所述子图像块中的条数量与预设条数量是否相匹配，并根据匹配结果确定所述一维码图像中的一维码质量是否合格之前，还包括：对所述一维码图像进行二值化处理，得到二值化的所述一维码图像。根据本申请的实施例，可选的，上述一维码检测方法中，所述方法还包括：确定条数量与所述预设条数量不匹配的子图像块，作为目标子图像块；将所述目标子图像块在所述一维码图像中的位置作为一维码异常位置。第二方面，本申请提供了一种一维码检测装置，所述装置包括：获取模块，获取待检测图像；提取模块，用于提取所述待检测图像中的一维码图像；分行模块，用于对所述一维码图像进行分行处理，得到多行子图像块；确定模块，用于判断每个所述子图像块中的条数量与预设条数量是否相匹配，并根据匹配结果确定所述一维码图像中的一维码质量是否合格。第三方面，本申请提供了一种存储介质，该存储介质存储有计算机程序，当该计算机程序被一个或多个处理器执行，实现如上述的第一方面中任意一项所述的一维码检测方法。第四方面，本申请提供了一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有计算机程序，该计算机程序被所述处理器执行时，实现如上述的第一方面中任意一项所述的一维码检测方法。与现有技术相比，上述方案中的一个或多个实施例可以具有如下优点或有益效果：本申请提供的一种一维码检测方法、装置、存储介质及电子设备，方法包括：获取待检测图像；提取所述待检测图像中的一维码图像；对所述一维码图像进行分行处理，得到多行子图像块；判断每个所述子图像块中的条数量与预设条数量是否相匹配，并根据匹配结果确定所述一维码图像中的一维码质量是否合格，实现了对一维码质量的检测，解决了无法检测一维码是否印刷不清晰(缺失)、存在污点瑕疵的问题。附图说明在下文中将基于实施例并参考附图来对本申请进行更详细的描述。图1为本申请实施例一提供的一种一维码检测方法的流程示意图。图2为本申请实施例一提供的获取一维码图像的一种图像处理过程示意图。图3为本申请实施例一提供的对待检测图像进行预处理的流程示意图。图4为本申请实施例一提供的一种一维码质量不合格的一维码图像示意图。图5为本申请实施例一提供的一种一维码质量不合格的另一一维码图像示意图。具体实施方式以下将结合附图及实施例来详细说明本申请的实施方式，借此对本申请如何应用技术手段来解决技术问题，并达到相应技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。本申请实施例以及实施例中的各个特征，在不相冲突前提下可以相互结合，所形成的技术方案均在本申请的保护范围之内。实施例一请参阅图1，本申请提供一种可应用于手机、电脑或平板电脑等电子设备的一维码检测方法，所述一维码检测方法应用于所述电子设备时执行步骤S110至步骤S140。步骤S110：获取待检测图像。在本实施例中，所述待检测图像是包含有一维码的图像。一般的，在采集图像时，为了提高图像的分辨率，无法通过摄像设备直接采集到只包含一维码的图像，采集到的图像一般还包括一些非一维码的区域。因此，在保证图像分辨率的前提下，可先获取分辨率较高的包含有一维码的图像，在利用图像处理技术，从该图像中提取只包含一维码的图像。步骤S120：提取所述待检测图像中的一维码图像。在本实施例中，为提取所述待检测图像中的一维码图像，需要对所述待检测图像中的一维码进行定位，以确定一维码所在位置，再根据确定的位置，在所述待检测图像中进行截取操作，以得到所述待检测图像中的一维码图像。具体的包括以下步骤：第一步，对所述待检测图像进行二值化处理，得到二值化图像。对待检测图像进行二值化可使该图像中数据量大大减少，从而能突显出目标(即一维码)的轮廓，为确定一维码所在位置提供基础。可采用二值化算法对所述待检测图像进行二值化处理，二值化算法主要包括全局阈值、局本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种一维码检测方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取待检测图像；/n提取所述待检测图像中的一维码图像；/n对所述一维码图像进行分行处理，得到多行子图像块；/n判断每个所述子图像块中的条数量与预设条数量是否相匹配，并根据匹配结果确定所述一维码图像中的一维码质量是否合格。/n

【技术特征摘要】
1.一种一维码检测方法，其特征在于，所述方法包括：
获取待检测图像；
提取所述待检测图像中的一维码图像；
对所述一维码图像进行分行处理，得到多行子图像块；
判断每个所述子图像块中的条数量与预设条数量是否相匹配，并根据匹配结果确定所述一维码图像中的一维码质量是否合格。


2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，提取所述待检测图像中的一维码图像，包括：
对所述待检测图像进行二值化处理，得到二值化图像；
对所述二值化图像做闭运算处理，得到包括多个连通区域的第一图像；
确定所述第一图像中包括第一目标像素值且面积最大的连通区域，并将该连通区域作为目标区域；
在所述待检测图像中提取与所述目标区域处于相同位置所对应的图像，并将该图像作为一维码图像。


3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述待检测图像中提取与所述目标区域处于相同位置所对应的图像，包括：
以所述第一图像的任意一个顶点作为坐标原点，并建立坐标系；
根据建立的所述坐标系，确定所述目标区域的至少一组顶点坐标，其中，每组所述顶点坐标为所述目标区域的不相邻的两个顶点坐标；
根据至少一组所述顶点坐标，在所述待检测图像中提取与所述目标区域处于相同位置所对应的图像。


4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，在对所述待检测图像进行二值化处理之前，所述方法还包括：对所述待检测图像进行预处理，其中，所述预处理包括高斯模糊处理和梯度处理中的至少一种。


5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，判断每个所述子图像块中的条数量与预设条数量是否相匹配，并根据匹配结果确定所述一维码图像中的一维码...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱发，陈高，陈彦宇，
申请(专利权)人：珠海格力电器股份有限公司，珠海联云科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44