【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学测量
,特别涉及。
技术介绍
光偏振参数对光束或光信号的影响非常重大。偏振相关损耗(比如PDL和PMD)会在光纤和其他设备中产生影响,影响光设备或系统的运作。此设备可以合理的测量和反应光信号中的的SOP、PDL和DOP。
技术实现思路
本专利技术通过各种操作、设备举例和技术说明,来表现如何使用偏振控制器和反馈电路来系统化控制各种输入偏振光,偏振控制器可以直接测量光设备或材料中的PDL、DOP。本专利技术的一个目的,通过偏振控制单元来控制偏振光。一个偏振控制单元响应一个模拟信号,光经过偏振控制单元进入光介质;光探测器接收到了传输光后通过光介质然后从探测器输出;反馈系统接收并响应了探测器的输出,产生了模拟信号并再次进入偏振控制单元,来调整光介质中的偏振光。从而测量最大传播因素和最小传播因素。本专利技术的另一个目的是提出一种设备,包括偏振系统,从而响应模拟信号,控制偏振光并接收输入光。一个光偏振器放置在偏振控制单元产生的输出光之前;一个光探测器从光偏振器接收到输出光,然后由探测器再进行输出;一个反馈单元接收并响应了探测器的输出,产生了模拟控制信号 ...
【技术保护点】
一种设备,其特征在于,包括:偏振模块,光从偏振模块通向光介质,偏振模块根据控制信号控制其接受到的光的偏振态;光探测器,接收通过光介质传输的光并产生一个探测输出; 反馈单元,反馈单元获取探测器输出并对接收到的探测器输出 响应,产生控制信号控制偏振模块以调节光的偏振,使得光探测器中传输的光最大和最小。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:姚晓天,
申请(专利权)人:通用光讯光电技术北京有限公司,
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]
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