一种自动进样器制造技术

本发明专利技术属于分析检测技术领域，涉及一种自动进样器，包括进样部、输送部、定位检测部、放置有若干样品贮存器的样品台以及与进样部、输送部、定位检测部连接的控制部；进样部固定在输送部上，输送部用于将进样部输送至样品台的指定位置；设置在进样部下方的定位检测部用于检测指定位置是否存在样品贮存器，若存在则控制部控制进样部进样，若不存在则控制部输出停止操作指令。其可以自动判断输送位置是否准确以及样品台中各个位置是否存在样品贮存器，避免进样失败，也可以从任意位置继续进样，而不需要重头再来，节省了时间成本。其控制部可获取仪器信号，待仪器转为就绪状态时进行操作，进一步提高了分析的成功率。

【技术实现步骤摘要】
一种自动进样器
本专利技术是关于一种自动进样器，属于分析检测

技术介绍
随着技术的不断发展,自动进样器因为具有可以连续自动进样、无人值守、提高工作效率的特点,已经成为分析检测仪器的标配。常见的进样器主要有圆盘式和三轴龙门式。其虽然可以适用于液体的进样，但是不能通过扩展件实现气体进样,而且当移动位置偏移时，进样器无法及时检测并停止进样，因此需要设计一种应用于气体可以检测位置是否正确、样品储存器是否存在的进样器。
技术实现思路
针对上述现有技术的不足，本专利技术的目的是提供一种自动进样器，其可以自动判断输送部样品台中各个位置是否存在样品贮存器，避免进样失败，也可以从任意位置继续进样，而不需要重头再来，节省了时间成本。为实现上述目的，本专利技术提供了一种自动进样器，包括进样部、输送部、定位检测部、放置有若干样品贮存器的样品台以及与进样部、输送部、定位检测部连接的控制部；进样部固定在输送部上，输送部用于将进样部输送至样品台的指定位置；设置在进样部下方的定位检测部用于检测指定位置是否存在样品贮存器，若存在则控制部控制本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动进样器，其特征在于，包括进样部、输送部、定位检测部、放置有若干样品贮存器的样品台以及与所述进样部、输送部、定位检测部连接的控制部；/n所述进样部固定在输送部上，所述输送部用于将所述进样部输送至所述样品台的指定位置；/n设置在所述进样部下方的定位检测部用于检测所述指定位置是否存在样品贮存器，若存在则所述控制部控制进样部进样，若不存在则所述控制部输出停止操作指令。/n

【技术特征摘要】
1.一种自动进样器，其特征在于，包括进样部、输送部、定位检测部、放置有若干样品贮存器的样品台以及与所述进样部、输送部、定位检测部连接的控制部；
所述进样部固定在输送部上，所述输送部用于将所述进样部输送至所述样品台的指定位置；
设置在所述进样部下方的定位检测部用于检测所述指定位置是否存在样品贮存器，若存在则所述控制部控制进样部进样，若不存在则所述控制部输出停止操作指令。


2.如权利要求1所述的自动进样器，其特征在于，所述输送部包括设置在所述样品台相互平行的两侧上的第一滑轨，所述第一滑轨上设置有第一滑台，所述第一滑台上设置有第二滑轨，所述第二滑轨上设置有第二滑台，所述第二滑台的滑动方向与第一滑台的滑动方向垂直，所述第二滑台上设置有第三滑轨，所述第三滑轨上设有第三滑台，所述第三滑台在竖直方向上滑动，所述进样部固定在所述第三滑台上，所述定位检测部固定在所述第三滑轨的底部。


3.如权利要求2所述的自动进样器，其特征在于，所述第一滑台和第二滑台上均设有测位传感器和光栅尺，所述测位传感器能够读取所述光栅尺上的刻度，并向控制器实时反馈第一滑台和第二滑台的位置。


4.如权利要求2所述的自动进样器，其特征在于，所述进样部通过固定件固定在所述第三滑台上，所述固定件上设有第一通孔，所述进样部包括压帽接头和进样针，所述压帽接头通过第一通孔固定在所述固定件上，所述进样针固定在所述压帽接头上。


5.如权利要求4所述的自动进样器，其特征在于，所述定位检测部包括传感器、固定在所述第三滑轨底部的挡瓶件以及与所述挡瓶件配合使用的测位组件，所述挡瓶件包括用于容纳所述测位组件的第一部分，用于容纳所述传感器的第二部分。


6.如权利要求5所述的自动进样器，其特征在于，所述测位组件包括测位杆，所述测位杆的一端...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘伟，张淑敏，
申请(专利权)人：中国科学院植物研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11