一种确定污染土壤多层采样装置及其采样方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种确定污染土壤多层采样装置及其采样方法，属于智能采样技术领域，本发明专利技术包括如下步骤：步骤S1、根据采样井地表压力和温度的建立相关的数学模型；步骤S2、根据地层渗流点解析模型，得到地层压力分布、由此确定采样井的温度表达式；步骤S3、利用温度表达式，通过在地面至少五次以上改变流量，分析多层和采样处光光纤测量的温度，确定各层段的产出量，通过建立地层压力‑温度方程，并通过适当的简化，求解温度方程，给污染层建井筒处温度表达式，分析多层合采处光纤测量的温度，从而确定每层段的产出量，避免了目前光纤测温需要大型计算，能够精准计算每层的污染量。

【技术实现步骤摘要】
一种确定污染土壤多层采样装置及其采样方法
本专利技术涉及一种确定污染土壤多层采样装置，具体是一种确定污染土壤多层采样装置及其采样方法。
技术介绍
不同地质年代沉积导致储层具有多层的特性，各层的地层参数如渗透率、孔隙度、高度、边界距离都可能不同，从经济角度，往往采用多层合采进行开发。多层合采时，由于井筒压力保持一致，各层污染量不仅与相应层地层参数有关，还与该层压力相关，如果随意决定合采的层段，往往会出现一些层倒灌的情况，因此，确定每个层段的污染量，可以优化组合合采的层段，目前确定土壤气的采样的方法主要通过计算压力与实测压力等数据拟合方法获获得。近年来，随着温度仪测量精度的提高，通过温度变化对建井进行监测备受关注。传统的采用红外测温仪、红外热成像仪、温度传感器阵列等设备测量井温，由于井下恶劣环境对测试仪器产生的影响很大，很容易造成测试误差，且对于温度场的测量有很多不足。而分布式光纤感温系统具有测量点多，精度高，轻巧且能承受井下恶劣环境等优点，可以获取整个光纤分布区域的温度场的信息。由于地层中温度变化机制十分复杂，温度变化不仅与热传导本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种确定污染土壤多层采样装置的采样方法，其特征在于，包括如下步骤；/n步骤S1、根据采样井地表压力和温度的建立相关的数学模型；/n步骤S2、根据地层渗流点解析模型，得到地层压力分布、由此确定采样井的温度表达式；/n步骤S3、利用温度表达式，通过在地面至少五次以上改变流量，分析多层和采样处光光纤测量的温度，确定各层段的污染量。/n

【技术特征摘要】
1.一种确定污染土壤多层采样装置的采样方法，其特征在于，包括如下步骤；
步骤S1、根据采样井地表压力和温度的建立相关的数学模型；
步骤S2、根据地层渗流点解析模型，得到地层压力分布、由此确定采样井的温度表达式；
步骤S3、利用温度表达式，通过在地面至少五次以上改变流量，分析多层和采样处光光纤测量的温度，确定各层段的污染量。


2.根据权利要求1所述的一种确定污染土壤多层采样装置的采样方法，其特征在于：所述步骤S2，包括如下步骤；
步骤S21、根据地层各向同性，岩石及流体微可压缩性，并将采样井简化为点源，可以得到地层压力分布p(x,y,t)；
步骤S22：采样井采样时地层温度不变，当地层流体经过滤料流入采样井筒，由于节流会导致焦耳-汤姆孙效应，从而建立产层位置处井壁压力-温度方程，求解可得到温度表达式。


3.根据权利要求1所述的一种确定污染土壤多层采样装置的采样方法，其特征在于：所述步骤S21中，地层压力分布表达式为：



式中：p(x,y,t)压力值；
kx、Ky-X方向，y方向的渗透率；
μ黏度；

孔间隙度；
C压缩系数；
H(x，y)采样层的厚度；
q采样井的(或生产井)的流量(若为采样井q取正号，若为生产井q取负号)。


4.根据权利要求2所述的一种确定污染土壤多层采样装置的采样方法，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：刁大伟，
申请(专利权)人：江苏华勘环保科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32